[发明专利]一种控制芯片进入不同模式的方法及装置

权利要求书

1.一种控制芯片进入不同模式的方法，其特征在于，所述控制芯片进入不同模式的方法包括：

判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；

根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

2.如权利要求1所述的控制芯片进入不同模式的方法，其特征在于，根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式具体为：

若所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚均为高电平，控制所述芯片进入正常启动模式；

若所述第一输入输出脚为高电平，所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入烧录模式；

若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式。

3.如权利要求2所述的控制芯片进入不同模式的方法，其特征在于，在若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式之后，所述方法还包括：

判断所述芯片是否是第一次上电，若判断为否，控制所述芯片进入正常启动模式；

若判断为是，则判断所述第二输入输出脚的状态；

根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

4.如权利要求3所述的控制芯片进入不同模式的方法，其特征在于，所述判断所述第二输入输出脚的状态，根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式具体为：

若所述第二输入输出脚持续为高电平，控制所述第二输入输出脚一直处于等待状态；

若所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入测试选择模式。

5.如权利要求4所述的控制芯片进入不同模式的方法，其特征在于，在控制所述芯片进入测试选择模式之后，所述方法还包括：

判断所述第一输入输出脚的状态；

根据所述第一输入输出脚的状态，控制所述芯片进入相应的模块，具体为：

若所述第一输入输出脚为高电平，控制所述芯片进入板上测试模式；

若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入量产测试模式。

6.一种控制芯片进入不同模式的装置，其特征在于，所述控制芯片进入不同模式的装置包括：

第一判断模块，用于判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；

第一模式控制模块，用于根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

7.如权利要求6所述的控制芯片进入不同模式的装置，其特征在于，所述模式控制模块包括：

第一模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚均为高电平，控制所述芯片进入正常启动模式；

第二模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为高电平，所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入烧录模式；

第三模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式。

8.如权利要求7所述的控制芯片进入不同模式的装置，其特征在于，所述控制芯片进入不同模式的装置还包括：

第二判断模块，用于判断所述芯片是否是第一次上电，若判断为否，则所述芯片进入正常启动模式；

第三判断模块，用于当所述第二判断模块判断为是时，判断所述第二输入输出脚的状态；

第二模式控制模块，用于根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

9.如权利要求8所述的控制芯片进入不同模式的装置，其特征在于，所述第二模式控制模块包括：

第四模式选择单元，用于若所述第二输入输出脚持续为高电平，控制所述第二输入输出脚一直处于等待状态；

第五模式选择单元，用于若所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入测试选择模式。

10.如权利要求9所述的控制芯片进入不同模式的装置，其特征在于，所述控制芯片进入不同模式的装置还包括：

第四判断模块，用于判断所述第一输入输出脚的状态；

第三模式控制模块，用于根据所述第一输入输出脚的状态，控制所述芯片 进入相应的模块；

所述第三模式控制模块包括：

第六模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为高电平，控制所述芯片进入板上测试模式；

第七模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入量产测试模式。