[发明专利]一种列修复方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510624897.X 申请日: 2015-09-25
公开(公告)号: CN105225698B 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 苏志强;丁冲;陈立刚;谢瑞杰 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 苏培华
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 修复 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种列修复方法,其特征在于,包括:

检测主存储阵列中的当前列是否正常;

当所述当前列为坏列时,从芯片中预设的冗余列中选择一个可用且未被占用的列作为替换列;

将所述替换列对应的用于指示所述替换列是否已经被占用的信息,修改为已被占用;

将所述当前列的地址写入到所述替换列对应的锁存器中;

其中,冗余的列中的每个列对应有地址修复信息,其中,所述地址修复信息包含第一标识位、以及第二标识位,以及主存储阵列中列的地址信息;其中,第二标识位中的信息用于指示其所对应的列是否为正常的列,所述第一标识位中的信息用于指示其所对应的列是否已被占用;

则所述从芯片中预设的冗余列中选择一个可用、且未被占用的列作为替换列的步骤包括:

从所述冗余的列的起始地址开始扫描,依次扫描各列的地址修复信息包含的第一标识位、以及第二标识位,直至扫描到某一列的地址修复信息包含的第二标识位中信息为指示其所对应的列为正常,所述第一标识位中的信息为指示其所对应的列未被占用时,将扫描到的所述地址修复信息对应的列作为所述替换列。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述检测主存储阵列中的当前列是否正常的步骤之前,所述方法还包括:

分别判断所述预设的冗余列中的各列是否为正常列;

将坏列的第二标识位中的信息修改为指示列为坏列的信息。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述将所述当前列的地址写入到所述替换列对应的锁存器中的步骤之后,所述方法还包括:

将所述替换列对应的锁存器中的地址修复信息固化至所述主存储阵列的特定位置。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述将所述替换列对应的锁存器中的地址修复信息固化至所述主存储阵列的特定位置的步骤之后,所述方法还包括:

在芯片上电后,将所述特定位置中固化的地址修复信息读出并锁存至所述替换列对应的锁存器中;

当读写所述当前列时,将所述当前列对应的地址与所述替换列对应的锁存器中包含的地址进行比对,当比对结果匹配时,则直接访问所述替换列。

5.一种列修复装置,其特征在于,包括:

检测模块,用于检测主存储阵列中的当前列是否正常;

选择模块,用于当所述当前列为坏列时,从芯片中预设的冗余列中选择一个可用、且未被占用的列作为替换列;

修改模块,用于将所述替换列对应的用于指示所述替换列是否已经被占用的信息,修改为已被占用;

第一写入模块,用于将所述当前列的地址写入到所述替换列对应的锁存器中;

其中,冗余的列中的每个列均对应有地址修复信息,其中,所述地址修复信息包含第一标识位、第二标识位、以及主存储阵列中列的地址信息,其中,第二标识位中的信息用于指示其所对应的列是否为正常的列,所述第一标识位中的信息用于指示其所对应的列是否已被占用;所述选择模块从芯片中预设的冗余列中选择一个可用、且未被占用的列作为替换列时:

从所述冗余的列的起始地址开始扫描,依次扫描各列的地址修复信息包含的第一标识位、以及第二标识位,直至扫描到某一列的地址修复信息包含的第二标识位中信息为指示其所对应的列为正常,所述第一标识位中的信息为指示其所对应的列未被占用时,将扫描到的所述地址修复信息对应的列作为所述替换列。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述列修复装置还包括:

冗余列检测模块,用于在所述检测模块检测主存储阵列中的当前列是否正常之前,分别判断所述预设的冗余列中的各列是否为正常列;

信息修改模块,用于将坏列的第二标识位中的信息修改为指示列为坏列的信息。

7.根据权利要求5-6任一项所述的装置,其特征在于,所述列修复装置还包括:

第二写入模块,用于将所述替换列对应的锁存器中的地址修复信息固化至所述主存储阵列的特定位置。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述列修复装置还包括:

关联模块,用于在所述第二写入模块将所述替换列对应的锁存器中的地址修复信息固化至所述主存储阵列的特定位置、且芯片上电后,将所述特定位置中固化的地址修复信息读出并锁存至所述替换列对应的锁存器中;当读写所述当前列时,将所述当前列对应的地址与所述替换列对应的锁存器中包含的地址进行比对,当比对结果匹配时,则直接访问所述替换列。

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