[发明专利]用于测量嵌入式微小型工件切削量的精密测量方法和装置有效
申请号: | 201510599561.2 | 申请日: | 2015-09-19 |
公开(公告)号: | CN105081885B | 公开(公告)日: | 2017-09-26 |
发明(设计)人: | 许蓬子;周晓勤;侯强;刘强 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | B23Q17/20 | 分类号: | B23Q17/20 |
代理公司: | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司22100 | 代理人: | 魏征骥 |
地址: | 130012 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 嵌入 式微 小型 工件 切削 精密 测量方法 装置 | ||
技术领域
本发明属于精密加工及切削量精密测量领域,特别涉及一种用于测量嵌入式微小型工件切削量的精密测量方法和装置。
背景技术
随着科学技术的发展及社会需求的增加,微小零件在工业产品中的应用日益增多,各种各样的微小零件被不断设计制造出来,给人类的生活带来了巨大的便利,如微型齿轮、微型轴承等。目前,各种微小零件被广泛应用于通讯、光学、航空航天和机械加工等领域,这些微小零件外形尺寸一般在几十微米到数毫米之间,虽然重量轻但功能反而更强。
微小型工件的装夹和定位是十分困难的,其体积小,容易丢失和损坏,而且各功能表面小,对其重新定位夹紧不可靠且容易变形,轻者会造成加工精度丧失,重者会导致工件报废。为了提高微小型工件的加工精度和加工效率,其中最实用的方法是把微小型工件牢牢嵌入在一个小型工件衬底中,再把该小型工件衬底安装在大型夹具上以方便加工。而由于微小型工件嵌入在一个小型工件衬底中无法取出,若采取直接测量的方法,则会产生测量精度低,对加工表面有损伤等问题,考虑到切削量对于检测加工完的工件的形状和精度有重要的指导意义,所以精密测量嵌入式微小型工件的切削量至关重要,而目前还没有一套用于测量嵌入式微小型工件切削量的精密测量的可行的方法和装置。
发明内容
本发明提供一种用于测量嵌入式微小型工件切削量的精密测量方法和装置,以解决目前微小型工件的切削量难以精密测量的问题,致力于提供一种用于测量嵌入式微小型工件切削量的精密、可靠、简便的测量方法和装置。
本发明采取的技术方案是,包括下列步骤:
(1)把镶嵌有未加工的被测工件的工件衬底和主电容位移传感器并排安装在移动平台a上的移动板上;
(2)旋动移动平台a的调节螺杆a将被测工件与一个球形基底接触,并测出主电容位移传感器与一个移动块的距离S1;
(3)从移动平台a上的移动板上取下被测工件,加工被测工件,去除一定的厚度;
(4)把带有已加工的被测工件的工件衬底重新安装在移动板上,并再次旋动移动平台a的调节螺杆a;
①若被测工件先与测量触板上的球形基底接触,且主电容位移传感器尚未与移动块接触,即△R≤S1,则工件的切削量为:
△R=S1-S2
其中,S2为此时主电容位移传感器与移动块的距离;
②若主电容位移传感器先与移动块接触,而被测工件尚未与测量触板上的球形基底接触,即△R>S1,则工件的切削量为:
△R=S1+S3-S4
其中,S3为预先测出的副电容位移传感器和移动块的距离,S4为把移动块向副电容位移传感器移动一定的距离后,旋动移动平台a的调节螺杆a,直到被测工件可以与球形基底接触时,副电容位移传感器和移动块之间的距离。
实现本发明所述方法的一种用于测量嵌入式微小型工件切削量的精密测量装置,主间距调节单元、滑块调节单元与副间距调节单元均安装在底板上。
所述主间距调节单元的结构是:固定底座a安装在底板上,调节螺杆a安装在固定底座a上,移动支座a安装在固定底座a上、且与固定底座a滑动连接,并能用调节螺杆a调节移动支座a与固定底座a之间的距离,移动板通过紧定螺钉一安装在移动支座a上,工件衬底通过紧定螺钉二与固定底座a固定连接,被测工件嵌入安装在工件衬底中,主电容位移传感器穿过移动板上的一个孔与工件衬底并排安装在移动板上,导向支架a通过紧定螺钉三安装在移动板上,导向支架a上开有正方形孔,正方型导柱a穿入该孔中,为主电容位移传感器起到轴向导向作用,主电容位移传感器与正方型导柱a连接为一整体,导线一从正方形导柱中引出,微调旋钮a与主电容位移传感器螺纹连接,并位于导向支架a与移动板之间,主电容位移传感器沿旋转微调旋钮a轴向移动,紧定螺钉四用于主电容位移传感器的轴向固定。
所述滑块调节单元的结构是:测量触板安装在底板上,钢珠嵌入安装在测量触板上,作为切削量测量基准,移动块安装在测量触板的孔中,并沿该孔轴向移动,调节螺钉六与移动块的突出部分螺纹连接,挡块通过紧定螺钉五安装在测量触板上,调节螺钉六的螺帽由挡块和测量触板上的小凸台轴向限位,微调旋钮c安装在调节螺钉六的端部,并由螺母一和螺母二进行双面固定,旋转微调旋钮c可调节移动块的轴向位移量。
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