[发明专利]一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法

权利要求书

1.一种基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，其特征在于，包括：指定相同种类的多个待测元器件，对所述多个待测元器件进行加速退化实验，测试并记录所述多个待测元器件的性能退化参数；所述对所述多个待测元器件进行加速退化实验为：将所述多个待测元器件设置于异常工作环境下，在外部电路的控制下进行工作；其中，所述异常工作环境包括以下至少之一：高温、高气压、高电压、水中；所述多个待测元器件的性能退化参数包括以下至少之一：任一管脚上的电流、任两管脚之间的电压；

根据所述多个待测元器件的性能退化参数确定敏感参数，并对所述多个待测元器件的性能退化参数的样本序列进行平稳化处理，包括：根据DF检验法检验所述多个待测元器件的性能退化参数的样本序列是否平稳；若所述多个待测元器件的性能退化参数的样本序列不平稳，则从所述多个待测元器件的性能退化参数中选取随时间变化体现出不平稳性的一个或多个参数作为敏感参数，其中，所述多个参数敏感参数之间具有明显的相关性；使用差分法对所述不平稳的样本序列进行处理，使之在DF检验法下平稳；

获得ARIMA模型参数，根据所述多个待测元器件的性能退化参数建立ARIMA模型，并将ARIMA模型更新为敏感参数轨迹的拟合模型；

将所述拟合模型与所述样本序列进行对比判定所述拟合模型是否有效，并对有效的拟合模型评定拟合精度；

所述对有效的拟合模型评定拟合精度，为根据所述拟合模型与所述样本序列的残差的自相关性对有效的拟合模型计算所述拟合精度，其中，所述拟合精度包括以下至少之一：每个样本的平均绝对拟合误差、平均相对拟合误差、拟合均方差；

根据所述拟合精度预测敏感参数轨迹的走势，所述敏感参数轨迹的走势为电路寿命的预测结果。

2.根据权利要求1所述的基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，其特征在于，所述获取ARIMA模型参数，为根据所述多个待测元器件的性能退化参数建立ARIMA模型，为获取ARIMA模型的p、d、q参数，并根据所述多个待测元器件的性能退化参数与所述p、d、q参数建立ARIMA模型。

3.根据权利要求2所述的基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，其特征在于，获取所述ARIMA模型的p、q参数的方法为以下之一：样本自相关函数和偏相关函数法、延伸自相关系数法、最小典型相关法、最小信息准则法。

4.根据权利要求3所述的基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，其特征在于，获取所述ARIMA模型的p、q参数的方法为最小信息准则法，所述最小信息准则法从拟合优度和模型复杂程度两个方面评价所述ARIMA模型，确定p、q参数的上限，并根据p、q参数的上限计算出所述ARIMA模型的最小信息值所在阶数作为所述ARIMA模型阶数，同时确定与所述ARIMA模型阶数相对应的p、q参数。

5.根据权利要求1所述的基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，其特征在于，将所述拟合模型与所述样本序列进行对比判定所述拟合模型是否有效，为判断所述拟合模型与所述样本序列的残差是否为自相关性为零，若自相关性为零或很接近零则判定所述拟合模型有效。

6.根据权利要求1－5中任意一项所述的基于加速退化轨迹的电路寿命预测方法，其特征在于，相同种类的所述多个待测元器件为40个TL431MJGB芯片，所述加速退化实验为在高温高供电电压环境下持续工作。