[发明专利]一种摆线齿轮齿廓法向误差的测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510460219.4 申请日: 2015-07-30
公开(公告)号: CN105115465B 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 赵丽萍;邢攀;要义勇;李海海 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 摆线 齿轮 齿廓法 误差 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种摆线齿轮齿廓法向误差的测量方法,其特征在于,采用一种摆线齿轮齿廓法向误差的测量装置进行测量;所述摆线齿轮齿廓法向误差的测量装置,包括夹具和计算机;夹具包括齿轮卡盘(1)、位移传感器(2)、测头水平安装平台(3)、测杆(4)、第二伺服电机(5)、底座水平导轨(6)、底座(7)和第一伺服电机(8);底座(7)上设有底座水平导轨(6),底座水平导轨(6)上安装有第一滑块,第二伺服电机(5)固定安装在第一滑块上;第一伺服电机(8)固定在底座(7)的一端,第一伺服电机(8)的输出轴连接齿轮卡盘(1);第二伺服电机(5)的输出轴连接测杆(4),测杆(4)上设有测头水平安装平台(3);带有位移传感器(2)的测头固定安装在测头水平安装平台(3)上;

测量方法包括以下步骤:

确定摆线齿轮齿廓上待测点,计算待测点法向方向各参数;通过第一伺服电机(8)转动控制摆线齿轮转动,通过第二伺服电机(5)的转动控制测头的角度,以及通过第一滑块在底座水平导轨(6)上的直线运动控制装有位移传感器(2)的测头水平位置;使每次测量时测头通过对应待测点的法向方向,测量出摆线齿轮齿廓点的法向误差。

2.根据权利要求1所述的一种摆线齿轮齿廓法向误差的测量方法,其特征在于,通过理论计算求出控制参数,包括齿轮转角,测头水平移动位置及测头转角;根据各控制参数控制测量运动使测头沿摆线齿轮齿廓待测点法向方向进行测量。

3.根据权利要求2所述的一种摆线齿轮齿廓法向误差的测量方法,其特征在于,各控制参数通过计算求出,分别为:

齿轮转角

测头水平移动位置

测头转角为

其中,以摆线齿轮定位中心O为原点建立平面直角坐标系XOY;(XA,YA)为摆线齿轮待测点A在XOY坐标系下的坐标,(XA',YA')为距离齿廓待测点A的法向方向上测距为d的位移传感器A'点在XOY坐标系下的坐标;

4.一种摆线齿轮齿廓法向误差的测量装置,其特征在于,包括夹具和计算机;夹具包括齿轮卡盘(1)、位移传感器(2)、测头水平安装平台(3)、测杆(4)、第二伺服电机(5)、底座水平导轨(6)、底座(7)和第一伺服电机(8);

底座(7)上设有底座水平导轨(6),底座水平导轨(6)上安装有第一滑块,第二伺服电机(5)固定安装在第一滑块上;第一伺服电机(8)固定在底座(7)的一端,第一伺服电机(8)的输出轴连接齿轮卡盘(1);第二伺服电机(5)的输出轴连接测杆(4),测杆(4)上设有测头水平安装平台(3);带有位移传感器(2)的测头固定安装在测头水平安装平台(3)上;

待测摆线齿轮固定在齿轮卡盘(1)上;待测摆线齿轮定位夹紧后,确定摆线齿轮齿廓上待测点,装有位移传感器的测头以确定量程沿摆线齿轮齿廓待测点的法向方向进行测量;

测量时选择摆线齿轮齿廓上待测点进行法向测量,确定齿廓待测点后,通过第一伺服电机(8)转动控制摆线齿轮转动,通过第二伺服电机(5)的转动控制测头的角度,以及通过第一滑块在底座水平导轨(6)上的直线运动控制装有位移传感器(2)的测头水平位置;使每次测量时测头通过对应待测点的法向方向。

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