[发明专利]MIPI模组点屏测试中自适应错误处理方法有效
| 申请号: | 201510318999.9 | 申请日: | 2015-06-11 |
| 公开(公告)号: | CN104865717B | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
| 发明(设计)人: | 彭骞;阳芬;郑增强;邓标华;沈亚非;陈凯 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司42104 | 代理人: | 黄行军 |
| 地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | mipi 模组 测试 自适应 错误 处理 方法 | ||
技术领域
本发明涉及液晶模组检测技术领域,具体涉及一种MIPI(Mobile Industry Processor Interface,移动通信行业处理器接口)模组点屏测试中自适应错误处理方法。
背景技术
在MIPI模组的研发、生产、测试和出厂前调试环节中,需要通过点屏的方式来确定该模组是否正常工作。实施点屏操作会出现几种结果:
一、模组成功点亮,且画面正常;
二、模组成功点亮,但画面异常;
三、模组点不亮。
出现点屏不成功结果除了开发人员能解释其中原因,非开发人员如测试人员、客户往往一头雾水,除了凭借经验及向研发求助外没有其他辅助措施,极大影响测试及生产效率,而且每次出现错误均需要技术人员进行处理,浪费人力。
因此需要发明一种MIPI模组点屏过程中错误状态检测和处理的方法,加强用户体验,提高测试及生产效率。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供了一种能够在MIPI模组点屏测试中对错误状态进行检测,并进行自适应处理的MIPI模组点屏测试中自适应错误处理方法。
本发明的技术方案为:一种MIPI模组点屏测试中自适应错误处理方法,它包括如下步骤:
步骤1:上位机向BMP图像及参数获取处理模块传输上层BMP图像数据和待测MIPI液晶模组配置参数,根据待测MIPI液晶模组配置参数从BMP图像数据中提取出三原色图像数据,并产生与本地三原色数据对应的同步信号,当上位机启动MIPI液晶模组开屏操作时,BMP图像及参数获取处理模块将启动开屏指令、三原色图像数据及对应的同步信号输送给MIPI开屏指令发送模块;
步骤2:MIPI开屏指令发送模块在收到BMP图像及参数获取处理模块发送的启动开屏指令后,根据MIPI协议标准通过图像数据转MIPI信号发送模块向待测MIPI液晶模组发送开屏指令,待测MIPI液晶模组开屏后,在上位机的控制下第一错误状态检测模块以低功耗传输模式通过MIPI开屏指令发送模块输出MIPI液晶模组检测状态字或者读MIPI液晶模组寄存器状态字,上述MIPI液晶模组检测状态字或者读MIPI液晶模组寄存器状态字通过图像数据转MIPI信号发送模块传输给待测MIPI液晶模组,上述MIPI液晶模组检测状态字或者读MIPI液晶模组寄存器状态字发送完毕后第一错误状态检测模块及MIPI开屏指令发送模块由发送状态转为接收状态;
步骤3:待测MIPI液晶模组根据步骤2中接收到的MIPI液晶模组检测状态字或者读MIPI液晶模组寄存器状态字直接向MIPI开屏指令发送模块反馈对应的MIPI液晶模组检测状态数据或MIPI液晶模组寄存器状态数据,第一错误状态检测模块从MIPI开屏指令发送模块中获取上述反馈的MIPI液晶模组检测状态数据或MIPI液晶模组寄存器状态数据,第一错误状态检测模块根据MIPI协议规范对反馈的MIPI液晶模组检测状态数据或MIPI液晶模组寄存器状态数据包进行解析,提取出MIPI液晶模组开屏状态信息,将MIPI液晶模组开屏状态信息中的错误状态上报给第一错误处理模块;
步骤4:第一错误处理模块收到错误状态后,与内部错误状态列表进行比对,判断错误类型,并根据错误类型对配置信息进行修改;
步骤5:当第一错误状态检测模块检测的MIPI液晶模组开屏状态信息中无错误状态,图像数据转MIPI信号发送模块开始进入高速传输模式,将MIPI开屏指令发送模块中的三原色图像数据及对应的同步信号转换成MIPI信号发送给待测MIPI液晶模组,该发送的过程中实时更新图像数据转MIPI信号发送模块内部的错误状态标识,以供第二错误状态检测模块读取;
步骤6:在上位机的检测错误状态标识控制下,第二错误状态检测模块在高速传输模式下向图像数据转MIPI信号发送模块发送错误状态检测信号,图像数据转MIPI信号发送模块给待测MIPI液晶模组发送MIPI液晶模组检测状态字或者读MIPI液晶模组寄存器状态字,发送完毕后第二错误状态检测模块及图像数据转MIPI信号发送模块由发送状态转为接收状态;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精测电子技术股份有限公司,未经武汉精测电子技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510318999.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





