[发明专利]基于投影结构稀疏编码的高光谱图像分类方法有效

专利信息
申请号: 201510295230.X 申请日: 2015-06-02
公开(公告)号: CN104866871B 公开(公告)日: 2018-06-05
发明(设计)人: 焦李成;马文萍;张风;刘芳;侯彪;王爽;杨淑媛 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;张问芬
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 高光谱图像 测试样本集 投影矩阵 分类 训练样本集 测试样本 投影结构 稀疏编码 稀疏系数 标签 高光谱图像数据 地物类别 高维数据 光谱向量 邻域信息 误差判别 训练样本 高光谱 地物 读入 可用 求解 判定
【权利要求书】:

1.一种基于投影结构稀疏编码的高光谱图像分类方法,包括如下步骤:

(1)输入一幅包含k个类别的待分类高光谱图像,将该高光谱图像的每一个像素点设定为一个样本,并对其作归一化处理;

(2)在高光谱图像有标签的光谱向量中确定训练样本和测试样本;

(3)根据训练样本求得投影矩阵W;

(3a)按照下式,计算高光谱图像所有训练图像块的初始稀疏系数:

β i ( 0 ) s = ( β 1 ( 0 ) , ... , β i - 1 ( 0 ) , β i ( 0 ) , β i + 1 ( 0 ) , ... β n ( 0 ) ) , ]]>

其中,表示Xi对应的初始稀疏系数,通过下式求得:

min β i ( 0 ) 1 2 | | A - i β i ( 0 ) - X i | | F 2 + λ 1 | | β i ( 0 ) | | 2 + λ 2 t r ( β i ( 0 ) L ( β i ( 0 ) ) T ) , i = 1 , 2 , ... , n ]]>

式中,Xi表示以xi为中心的5×5空间窗口的训练图像块;xi表示的第i个训练样本;A-i表示训练字典,A-i=(x1,…,xi-1,xi+1,…,xn)∈Rm×(n-1),m表示高光谱图像的波段数,n表示训练样本个数;表示矩阵的转置矩阵;表示求Frobenius范数的平方和操作;||·||2表示求2范数操作;λ1表示求2范数正则项的正则化参数;λ2表示空间拉普拉斯正则项的正则化参数;tr表示对矩阵求迹的操作;L表示拉普拉斯图正则矩阵,L=I-D-1/2GD-1/2,G表示空间约束矩阵,gst表示为G的第s行第t列的元素;NB(yi)是以yi为中心的5×5空间窗口,是位于(is,js)的像素点ys与位于(it,jt)的像素点yt之间的距离,(is,js)表示ys在5×5窗口中位置,(it,jt)表示yt在5×5窗口中位置;D是对角矩阵,其对角元素是G中每行元素之和;

(3b)按照下式,求得高光谱图像训练样本的初始投影矩阵W(0)

min W ( 0 ) Σ i = 1 n 1 2 | | ( W ( 0 ) ) T A - i β - i ( 0 ) - ( W ( 0 ) ) T x i | | F 2 s . t . ( W ( 0 ) ) T W ( 0 ) = I , ]]>

其中,(W(0))T表示初始投影矩阵W(0)的转置矩阵;表示xi对应的初始稀疏系数;I表示单位矩阵;

(3c)固定初始投影矩阵W(0),按照下式,求得训练图像块的稀疏系数βis=(β1,…,βi-1ii+1,…βn):

其中,βi表示Xi对应的稀疏系数,通过下式求得:

min β i Σ i = 1 n 1 2 | | A ~ - i β i - X ~ i | | F 2 + λ 1 | | β i | | 2 + λ 2 t r ( β i Lβ i T ) ]]>

A ~ - i = ( W ( 0 ) ) T A - i X ~ i = ( W ( 0 ) ) T X i i = 1 , 2 , ... , n , ]]>

式中,表示xi对应的降维后的训练字典;表示以xi为中心的5×5空间窗口的训练图像块降维后的训练图像块;

(3d)固定训练样本的稀疏系数β-is,按照下式,计算投影矩阵W:

min W t r ( W T H W ) , s . t . W T W = I , ]]>

其中,

(3e)重复执行(3c)和(3d)共20次,得到高光谱图像训练样本的最终投影矩阵W;

(4)根据投影矩阵W,按照下式求得测试样本的稀疏系数θ;

min θ 1 2 | | W T A θ - W T y | | F 2 + λ 1 | | θ | | 2 + λ 2 t r ( θLθ T ) , ]]>

其中,y表示测试样本,A表示测试字典,把训练样本作为测试字典;

(5)根据投影矩阵W和测试样本的稀疏系数θ,利用误差判别函数对测试样本进行判定,得到测试样本地物类别标签k:

k=min||WTy-WTAkθk||2

其中,Ak表示第k类训练样本对应的测试字典;θk表示稀疏系数中对应测试字典Ak中第k类测试样本位置处的系数。

2.根据权利要求1所述的基于投影结构稀疏编码的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述步骤(2)中确定训练样本和测试样本,按如下步骤进行:

(2a)采用等概率采样的方法,在高光谱图像有标签的光谱向量中,依次随机选取10%的样本,作为训练样本,对于训练样本中的任意一个样本xi,定义一个以xi为中心的5×5空间窗口,得到高光谱图像训练图像块Xi

(2b)将剩余90%的样本作为高光谱图像的测试样本,对于测试样本中的任意一个样本yi,定义一个以yi为中心的5×5空间窗口,得到高光谱图像测试图像块Yi

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