[发明专利]基于投影结构稀疏编码的高光谱图像分类方法有效
| 申请号: | 201510295230.X | 申请日: | 2015-06-02 |
| 公开(公告)号: | CN104866871B | 公开(公告)日: | 2018-06-05 |
| 发明(设计)人: | 焦李成;马文萍;张风;刘芳;侯彪;王爽;杨淑媛 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
| 主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
| 代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;张问芬 |
| 地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高光谱图像 测试样本集 投影矩阵 分类 训练样本集 测试样本 投影结构 稀疏编码 稀疏系数 标签 高光谱图像数据 地物类别 高维数据 光谱向量 邻域信息 误差判别 训练样本 高光谱 地物 读入 可用 求解 判定 | ||
1.一种基于投影结构稀疏编码的高光谱图像分类方法,包括如下步骤:
(1)输入一幅包含k个类别的待分类高光谱图像,将该高光谱图像的每一个像素点设定为一个样本,并对其作归一化处理;
(2)在高光谱图像有标签的光谱向量中确定训练样本和测试样本;
(3)根据训练样本求得投影矩阵W;
(3a)按照下式,计算高光谱图像所有训练图像块的初始稀疏系数:
其中,表示Xi对应的初始稀疏系数,通过下式求得:
式中,Xi表示以xi为中心的5×5空间窗口的训练图像块;xi表示的第i个训练样本;A-i表示训练字典,A-i=(x1,…,xi-1,xi+1,…,xn)∈Rm×(n-1),m表示高光谱图像的波段数,n表示训练样本个数;表示矩阵的转置矩阵;表示求Frobenius范数的平方和操作;||·||2表示求2范数操作;λ1表示求2范数正则项的正则化参数;λ2表示空间拉普拉斯正则项的正则化参数;tr表示对矩阵求迹的操作;L表示拉普拉斯图正则矩阵,L=I-D-1/2GD-1/2,G表示空间约束矩阵,gst表示为G的第s行第t列的元素;NB(yi)是以yi为中心的5×5空间窗口,是位于(is,js)的像素点ys与位于(it,jt)的像素点yt之间的距离,(is,js)表示ys在5×5窗口中位置,(it,jt)表示yt在5×5窗口中位置;D是对角矩阵,其对角元素是G中每行元素之和;
(3b)按照下式,求得高光谱图像训练样本的初始投影矩阵W(0):
其中,(W(0))T表示初始投影矩阵W(0)的转置矩阵;表示xi对应的初始稀疏系数;I表示单位矩阵;
(3c)固定初始投影矩阵W(0),按照下式,求得训练图像块的稀疏系数βis=(β1,…,βi-1,βi,βi+1,…βn):
其中,βi表示Xi对应的稀疏系数,通过下式求得:
式中,表示xi对应的降维后的训练字典;表示以xi为中心的5×5空间窗口的训练图像块降维后的训练图像块;
(3d)固定训练样本的稀疏系数β-is,按照下式,计算投影矩阵W:
其中,
(3e)重复执行(3c)和(3d)共20次,得到高光谱图像训练样本的最终投影矩阵W;
(4)根据投影矩阵W,按照下式求得测试样本的稀疏系数θ;
其中,y表示测试样本,A表示测试字典,把训练样本作为测试字典;
(5)根据投影矩阵W和测试样本的稀疏系数θ,利用误差判别函数对测试样本进行判定,得到测试样本地物类别标签k:
k=min||WTy-WTAkθk||2,
其中,Ak表示第k类训练样本对应的测试字典;θk表示稀疏系数中对应测试字典Ak中第k类测试样本位置处的系数。
2.根据权利要求1所述的基于投影结构稀疏编码的高光谱图像分类方法,其特征在于,所述步骤(2)中确定训练样本和测试样本,按如下步骤进行:
(2a)采用等概率采样的方法,在高光谱图像有标签的光谱向量中,依次随机选取10%的样本,作为训练样本,对于训练样本中的任意一个样本xi,定义一个以xi为中心的5×5空间窗口,得到高光谱图像训练图像块Xi;
(2b)将剩余90%的样本作为高光谱图像的测试样本,对于测试样本中的任意一个样本yi,定义一个以yi为中心的5×5空间窗口,得到高光谱图像测试图像块Yi。
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