[发明专利]压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法

说明书

本发明揭示了压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法，其中压痕采集装置包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机；所述物镜设置于所述第一镜筒的一端，第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器，DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端，第二镜筒的另一端设置所述线性相机。本发明的压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法，通过线性相机扫描目标物料的压痕信息，所以只需要一个线性相机即可，节约检测设备的成本，降低检测设备的体积；而且线性相机采集目标物料的压痕影像速度快，提高检测效率；压痕影像更加清晰，提高判断结果的准确性。

技术领域

本发明涉及到液晶模组检测领域，特别是涉及到一种压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法。

背景技术

液晶模组用粒子检测方法为利用各向异性导电薄膜的粘结力在其薄膜表面预压接部件的部件材料，利用高温、高压的工具实施压接，在此压接过程中产生的异性导电薄膜内粒子破裂，以影像提取并检查，并检查连接有无缺陷，并加以分别处理。

现有技术的液晶模组用粒子检测方法，通过两个照相机配合拍摄压痕图像，成本较高，检测效率低。

发明内容

本发明的主要目的为提供一种可以节约检测设备成本、检测效率高的压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法。

为了实现上述发明目的，本发明提出一种压痕采集装置，包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机；

所述物镜设置于所述第一镜筒的一端，第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器，DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端，第二镜筒的另一端设置所述线性相机。

进一步地，所述压痕采集装置还包括照明光源，突出设置于所述第一镜筒或第二镜筒的外侧面。

进一步地，所述压痕采集装置还包括第三镜筒和照明光源，所述照明光源突出设置于所述第三镜筒的外侧面；

所述第三镜筒的一端连接所述DIC滤波器，另一端连接所述第二镜筒。

进一步地，所述照明光源为LED光源。

本发明还提供一种液晶模组用粒子检测系统，包括压痕采集装置、图像数据分析装置、PLC控制装置和输料装置；

所述压痕采集装置采集压痕影像并转换为数字信号输送至所述图像数据分析装置；图像数据分析装置根据所述数字信号判断目标物体是否合格，并生成对应的控制命令发送至所述PLC控制装置；PLC控制装置根据所述控制命令控制输料装置将目标物料输送至指定工位；

所述压痕采集装置包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机；所述物镜设置于所述第一镜筒的一端，第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器，DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端，第二镜筒的另一端设置所述线性相机。

进一步地，所述的液晶模组用粒子检测系统还包括检测台装置，该检测台装置下方设置所述压痕采集装置，所述物镜对准所述检测台装置上的检测工位。

进一步地，所述压痕采集装置还包括照明光源，突出设置于所述第一镜筒或第二镜筒的外侧面。

进一步地，所述压痕采集装置还包括第三镜筒和照明光源，所述照明光源突出设置于所述第三镜筒的外侧面；

所述第三镜筒的一端连接所述DIC滤波器，另一端连接所述第二镜筒。

进一步地，所述照明光源为LED光源。

本发明还提供一种液晶模组用粒子检测系统的检测方法，包括：