[发明专利]压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201510239636.6 申请日: 2015-05-12
公开(公告)号: CN104965320B 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 李小根;师利全;胡争光;李先胜;肖红;谢小兵;罗东;陈俊 申请(专利权)人: 深圳市鑫三力自动化设备有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市中联专利代理有限公司 44274 代理人: 尹怀勤
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 压痕 采集 装置 液晶 模组 粒子 检测 系统 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种压痕采集装置,其特征在于,包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机;

所述物镜设置于所述第一镜筒的一端,第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器,DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端,第二镜筒的另一端设置所述线性相机;

还包括照明光源,突出设置于所述第一镜筒或第二镜筒的外侧面;

还包括第三镜筒和照明光源,所述照明光源突出设置于所述第三镜筒的外侧面;

所述第三镜筒的一端连接所述DIC滤波器,另一端连接所述第二镜筒。

2.一种液晶模组用粒子检测系统,其特征在于,包括压痕采集装置、图像数据分析装置、PLC控制装置和输料装置;

所述压痕采集装置采集压痕影像并转换为数字信号输送至所述图像数据分析装置;图像数据分析装置根据所述数字信号判断目标物体是否合格,并生成对应的控制命令发送至所述PLC控制装置;PLC控制装置根据所述控制命令控制输料装置将目标物料输送至指定工位;

所述压痕采集装置包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机;所述物镜设置于所述第一镜筒的一端,第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器,DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端,第二镜筒的另一端设置所述线性相机;

还包括检测台装置,该检测台装置下方设置所述压痕采集装置,所述物镜对准所述检测台装置上的检测工位;

所述压痕采集装置还包括照明光源,突出设置于所述第一镜筒或第二镜筒的外侧面;

所述压痕采集装置还包括第三镜筒和照明光源,所述照明光源突出设置于所述第三镜筒的外侧面;

所述第三镜筒的一端连接所述DIC滤波器,另一端连接所述第二镜筒。

3.根据权利要求2所述的液晶模组用粒子检测系统,其特征在于,所述照明光源为LED光源。

4.一种液晶模组用粒子检测系统的检测方法,其特征在于,包括:图像数据分析装置获取设置于检测台装置下方的压痕采集装置采集并转化成数字信号的目标物料的压痕影像信息,其中,压痕采集装置包括物镜、第一镜筒、DIC滤波器、第二镜筒和线性相机,所述物镜设置于所述第一镜筒的一端,第一镜筒的另一端设置所述DIC滤波器,DIC滤波器还设置于所述第二镜筒的一端,第二镜筒的另一端设置所述线性相机;根据压痕影像信息判断目标物料是否合格,并生成对应的控制信号发送给PLC控制装置;通过PLC控制装置根据所述控制信号控制输料装置将目标物料输送至对应的工位。

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