[发明专利]一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置有效
| 申请号： | 201510216385.X | 申请日： | 2015-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN104777216B | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 孙燕华;刘世伟;冯搏;顾民;刘长德;康宜华;陈少波 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学;中国船舶重工集团公司第七〇二研究所 |
| 主分类号： | G01N27/82 | 分类号： | G01N27/82 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人： | 梁鹏 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 缺陷 磁轭式 局部 磁化 检测 装置 | ||
1.一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置，其特征在于，该装置包括磁敏感元件部分(A)、磁感应部分(B)和磁轭式局部微磁化部分(C)，其中：
该磁敏感元件部分(A)包括磁敏感元件引线端(A1)、磁敏感元件(A2)、点型磁引导芯(A4)和磁绝缘的磁引导芯套筒(A3)，所述磁敏感元件引线端(A1)与所述磁敏感元件(A2)相连，所述点型磁引导芯(A4)呈下端为圆锥形、上端为圆柱形的结构，所述点型磁引导芯(A4)的圆柱形结构的上端与磁敏感元件(A2)下端的磁敏感部位相连，所述磁引导芯套筒(A3)采用过盈配合的方式紧套在所述磁引导芯(A4)圆柱形结构的外侧；
该磁感应部分(B)包括磁感应线圈(B1)和线圈引线端(B2)，所述磁感应线圈(B1)绕制在所述磁引导芯套筒(A3)的外侧，所述线圈引线端(B2)设置在所述磁感应线圈(B1)的两端，以便于所述磁感应线圈(B1)中磁感应信号的输出；
该磁轭式局部微磁化部分(C)包括环形导磁构件(C1)、磁铁连接件(C2,C2’)、磁轭式双磁铁(C3,C3’)和斜向双导磁构件(C4,C4’)，其中所述环形导磁构件(C1)套装在所述磁引导芯套筒(A3)的下部，并由所述磁引导芯套筒(A3)的下端面固定支撑，所述环形导磁构件(C1)的两侧通过磁铁连接件(C2,C2’)对称连接有沿竖直方向布置的且磁极相反的磁轭式双磁铁(C3,C3’)，所述磁轭式双磁铁(C3,C3’)的下端部连接有向所述点型磁引导芯(A4)的圆锥形结构倾斜的斜向双导磁构件(C4,C4’)。
2.如权利要求1所述的一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置，其特征在于，所述磁敏感元件(A2)为光纤磁敏感元件、磁通门磁敏感元件、巨磁阻磁敏元件和霍尔磁敏元件中的一种；所述磁引导芯(A4)的制备材料为坡莫合金。
3.如权利要求1或2所述的一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置，其特征在于，所述磁感应部分(B)由铜质漆包线绕制而成。
4.如权利要求1或2所述的一种适用于点型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置，其特征在于，所述磁轭式双磁铁(C3,C3’)为稀土永磁体。
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