[发明专利]阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置

说明书

本发明公开了一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，多条沿第一方向排列的栅极线；多条沿第二方向排列的数据线，第一方向和第二方向交叉从而限定多个子像素，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿第二方向排列的子像素的颜色不同；多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，避免像素电极对公共电极的影响，提高了测试效果。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更为具体的说，涉及一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置。

背景技术

液晶显示装置时目前常用的平板显示装置，其中，阵列基板是液晶显示装置中重要组件之一。现今，在制作液晶显示装置时，为了提高产品的良率，对其阵列基板的测试时必不可少的，通常将阵列基板和彩膜基板结合为显示面板，而后对阵列基板充入测试信号，检测显示面板的画面是否正常。但是，在对现有的阵列基板进行测试时，对其测试效果不佳。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置，通过将间隔的子像素组中相同像素列对应的数据线连接至同一测试端，使得在采用测试方法对阵列基板测试时，提高了公共电极的电压稳定性，进而提高了测试效果。

为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：

一种阵列基板，包括：

多条沿第一方向排列的栅极线；

多条沿第二方向排列的数据线，其中，所述第一方向和所述第二方向交叉从而限定多个子像素，其中，每一条数据线所对应的子像素为一子像素列，而相邻的M个子像素列为一子像素组，并定义为第1子像素列到第M子像素列，每一子像素组中沿所述第二方向排列的子像素的颜色不同，且M为大于等于2的正整数；

多个开关单元，每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接，每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端；以及

多个测试端，每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接，所述至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接，其中，i为小于等于M正整数。

另外，本发明还提供了一种测试方法，用于测试上述的阵列基板，包括：

同时控制所述多个开关单元导通；

逐级扫描所述多条栅极线，并同时对相邻两个子像素组中的第i子像素列所对应的测试端分别输出正极性测试信号和负极性测试信号，且输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同。

优选的，任意子像素组中相邻两个子像素列分别对应的测试端输出的测试信号的极性相反。

此外，本发明还提供了一种显示面板，包括上述的阵列基板。

最后，本发明还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。

相较于现有技术，本发明提供的技术方案至少具有以下优点之一：