[发明专利]阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置有效
| 申请号: | 201510153184.X | 申请日: | 2015-04-01 |
| 公开(公告)号: | CN104698637B | 公开(公告)日: | 2019-01-15 |
| 发明(设计)人: | 马从华 | 申请(专利权)人: | 上海天马微电子有限公司;天马微电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
| 地址: | 201201 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 阵列 测试 方法 显示 面板 显示装置 | ||
1.一种阵列基板,其特征在于,包括:
多条沿第一方向排列的栅极线;
多条沿第二方向排列的数据线,其中,所述第一方向和所述第二方向交叉从而限定多个子像素,其中,每一条数据线所对应的子像素为一子像素列,而相邻的M个子像素列为一子像素组,并定义为第1子像素列到第M子像素列,每一子像素组中沿所述第二方向排列的子像素的颜色不同,且M为大于等于2的正整数;
多个开关单元,每一开关单元的第一端分别与每一数据线电连接,每一开关单元的控制端均连接至一控制信号端;以及
多个测试端,每一测试端与至少两个开关单元的第二端电连接,所述至少两个开关单元分别与间隔设置的至少两个子像素组中的第i子像素列所对应的数据线电连接,其中,i为小于等于M正整数;
相邻两个子像素组中的第i子像素列所对应的测试端分别输出正极性测试信号和负极性测试信号;
位于同一子像素列的所有子像素的极性相同,对于输入测试信号的子像素列中,输出正极性测试信号的测试端和输出负极性测试信号的测试端的数量相同且任意相邻两个子像素列的极性相反。
2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,在所述M为奇数时,相邻两个子像素组中第i子像素列分别对应的测试端输出的测试信号的极性相反。
3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,M为2,且所述第1子像素列包括交替排列的第一颜色子像素和第二颜色子像素,所述第2子像素列包括交替排列的第三颜色子像素和第四颜色子像素;
或者,M为3,且所述第1子像素列包括多个第一颜色子像素,所述第2子像素列包括第二颜色子像素,所述第3子像素列包括第三颜色子像素。
4.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述多个开关单元均为相同导电类型的开关管,且所述多个开关单元的控制端均连接至同一控制信号端。
5.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括多个触控电极和多条触控电极引线,所述触控电极为公共电极分割而成,且每条触控电极引线分别与一触控电极电性连接,其中,
所述触控电极在显示阶段被施加公共电压,在触控阶段被施加触控检测信号。
6.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板包括:
基板;
设置于所述基板任一表面的第一导电层,所述第一导电层包括所述栅极线和栅极;
设置于所述第一导电层背离所述基板一侧的栅介质层;
设置于所述栅介质层背离所述基板一侧的半导体层,所述半导体层包括有源区;
设置于所述半导体层背离所述基板一侧的第二导电层,所述第二导电层包括所述数据线和源/漏极,其中,所述栅极、有源区、源/漏极形成薄膜晶体管;
或者,所述阵列基板包括:
基板;
设置于所述基板任一表面的半导体层,所述半导体层包括有源区;
设置于所述半导体层背离所述基板一侧的栅介质层;
设置于所述栅介质层背离所述基板一侧的第一导电层,所述第一导电层包括所述栅极线和栅极;
设置于所述第一导电层背离所述基板一侧的栅绝缘层;
设置于所述栅绝缘层背离基板一侧的第二导电层,所述第二导电层包括所述数据线和源/漏极,其中,所述栅极、有源区、源/漏极形成薄膜晶体管。
7.根据权利要求6所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板包括:
设置于所述第二导电层背离所述基板一侧的第一绝缘层;
设置于所述第一绝缘层背离所述基板一侧的第一电极;
设置于所述第一电极背离所述基板一侧的第二绝缘层;
设置于所述第二绝缘层背离所述基板一侧的第二电极。
8.根据权利要求7所述的阵列基板,其特征在于,所述第一电极为公共电极,所述第二电极为像素电极;
或者,所述第一电极为像素电极,所述第二电极为公共电极。
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