[发明专利]阵列基板及制造方法、显示面板及其测试方法、显示装置

权利要求书

1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区以及至少一个绑定区，所述至少一个绑定区位于所述显示区之外；

所述显示区内设置有若干条信号线，所述绑定区内设置有通过多条第一引线与多条所述信号线相连的多个接线端；

所述阵列基板还包括与任意一个或多个所述绑定区对应的一个或多个测试区；其中，测试区和绑定区通过同一步骤形成，测试区在形成绑定区的构图图案中；

所述测试区内设有多个测试端，任一所述测试区内的所述多个测试端通过多条第二引线与对应的绑定区内的所述多个接线端相连；

所述测试区位于对应的绑定区远离所述显示区的一侧；

所述多个接线端与所述多个测试端具有相同的大小、数量、形状以及排列方式。

2.一种阵列基板的制造方法，其特征在于，所述阵列基板包括显示区以及至少一个绑定区，任一所述绑定区位于所述显示区的一侧，所述方法包括：

形成包括所述至少一个绑定区，以及与任意一个或多个所述绑定区对应的一个或多个测试区的图案；

其中，所述显示区内设置有多条信号线，所述绑定区内设置有通过多条第一引线与多条所述信号线相连的多个接线端；

所述测试区内设有多个测试端，任一所述测试区内的所述多个测试端通过多条第二引线与对应的绑定区内的所述多个接线端相连；

所述测试区位于对应的绑定区远离所述显示区的一侧；

所述多个接线端与所述多个测试端具有相同的大小、数量、形状以及排列方式。

3.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1所述的阵列基板。

4.一种如权利要求3所述的显示面板的测试方法，其特征在于，包括：

对应于每一所述测试区，将第一测试探针组与该测试区内的所述多个测试端相互接触；

向显示面板提供偏置电压，通过所述第一测试探针组向显示面板提供驱动信号；

观察显示面板的显示情况以获取引线开路测试的测试结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一测试探针组中探针具有预设宽度，以使每一个所述探针均与两列测试端相互接触。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，还包括：

将所述第一测试探针组与所述显示面板脱离；

通过短路条电路向显示面板提供驱动信号和偏置电压，以获得该显示面板的显示测试结果。

7.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求3所述的显示面板。