[发明专利]一种基于嵌入式系统力/位移检测装置的曲线评估方法

说明书

一种基于嵌入式系统力/位移检测装置的曲线评估方法，利用一片ARM芯片作为控制器，采用嵌入式图形用户界面工具emWin进行标准曲线、待测曲线和评估标准（包含以下四种方法的任意组合：线程窗评估方法、通过窗评估方法、块窗评估方法、包络评估方法）的显示，采用计算水平线与多边形交点的方法进行待测曲线与评估窗口关系的判断，得到测试曲线与评估标准的位置关系，进而判断此待测曲线是否合格；判断完成后，待测曲线的数据和是否合格的信息送至液晶触摸屏进行显示，同时，数据送至外部SD卡存储空间进行数据存储。

技术领域

本发明涉及一种基于嵌入式系统力/位移检测装置的曲线评估方法，是采用嵌入式控制系统判别待检测曲线是否合格的一种方法。

背景技术

目前，力/位移传感器检测系统在对检测曲线评估时，多采用逐点法比较或特征值点比较。采用逐点法比较检测曲线与特征曲线或特征区间的关系，计算量大，很难保证计算和显示的实时性；采用特征值点进行比较，只能对曲线设定的区间进行判断，影响了使用的灵活性。

发明内容

本发明的技术解决问题是：克服现有力/位移传感器检测系统中曲线评估方法实时性差、使用灵活性差等方面的缺陷，采用嵌入式系统，设计了一种针对待测曲线进行评估的方法，该方法具有运算速度快、人机界面友好、具有实时存储和实时显示等优点。

本发明的技术解决方案为：

本发明利用一片ARM处理器芯片实现对液晶触摸屏的界面显示，根据标准曲线和待测曲线的评估标准（评估标准包含以下四种方法的任意组合：线程窗评估方法、通过窗评估方法、块窗评估方法、包络评估方法）对待测曲线进行是否合格的评估；同时，可方便、直观地显示待测曲线、标准曲线和测试各种评估标准窗的位置关系。待测曲线评估完成后，系统自动将此曲线数据送至外部SD卡存储空间进行数据存储。

有益效果

本发明具有结构简单，成本低、运算速度快等优点，且具有人机界面友好、实时存储和实时显示的功能。

附图说明

图1为本发明的结构组成框图。

图2为本发明的ARM芯片与SD卡接口电路图。

图3为本发明的液晶触摸屏显示界面示意图。

图4为本发明的通过窗测试曲线示意图。

图5为本发明的水平线与多边形的交点方法原理示意图。

图6为本发明的主程序流程图。

图7为为本曲线判断方法程序流程图。

下面结合附图对本发明专利作进一步的描述。

如图1所示：本发明中的ARM芯片1是曲线评估的控制核心，通过该芯片内部集成的液晶驱动模块3与液晶触摸屏2相连接，ARM芯片1根据液晶触摸屏2传来的设置指令，可以启动片内ADC进行采样，每次采样结束后的数据通过DMA通道传送至片内存储空间，并通过定时器1定时读取片内存储空间的采样数据，达到设定的采样点数（采样点数可以设置，本发明中设定的采样点数为4000）后，对采样结果进行数字低通滤波、加权平均滤波等处理，处理完成后的数据送至液晶触摸屏2的曲线显示界面进行实时显示，同时对此曲线进行评估判断，判断完成后将此曲线送至SD卡进行存储。