[发明专利]用连续电容传感识别物体的系统和方法在审

专利信息
申请号: 201480051147.1 申请日: 2014-11-12
公开(公告)号: CN105592897A 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 施政;刘春江 申请(专利权)人: 施政
主分类号: A63F3/00 分类号: A63F3/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100022 北京市朝阳区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 连续 电容 传感 识别 物体 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种捕捉施加于物体上的电容动作的系统,其特征在于:

包含:

-多个物体,每个所述物体嵌入一个电容标签和一个唯一识别码,

-一个有效连接到处理器的电容传感器,

-一个有效连接到所述处理器的读头,所述读头的探测范围包含所述电容传感器的探测范围,

其中,第一物体放置在所述电容传感器上,所述电容传感器从“断开”状态转换为“接通”状态,接着一个电容动作施加于所述第一物体,所述电容传感器探测到所述第一物体的电容变化,所述处理器从所述电容传感器接收到一个代表所述电容变化的信号并指示所述读头探测所述唯一识别码。

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:施加于物体的所述电容动作从一组动作中选择,包含:

-手指触摸所述物体,以及从所述物体移除所述手指触摸,

-在所述物体的邻近空间放置手指,以及从所述物体的邻近空间移除所述手指,

-用物理触笔触摸所述物体,以及从所述物体移除所述物理触笔,

-用能够引起所述物体的电容性能变化的装置触摸所述物体,以及从所述物体移除这样的装置,

-用能够引起所述物体的电容性能变化的装置接近所述物体,以及移动这样的装置远离所述物体。

3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:被施加的所述电容动作是在所述第一物体的顶部放置第二物体,所述读头探测到所述第一物体的唯一识别码和一个新唯一识别码,所述处理器分配所述新唯一识别码给所述第二物体。

4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于:第三物体放置在所述第二物体的顶部,所述读头探测到所述第一物体的唯一识别码,所述第二物体的唯一识别码,以及一个新唯一识别码,所述处理器分配所述新唯一识别码给所述第三物体。

5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:所述唯一识别码用射频识别标签编码,所述读头是射频天线和读写模块。

6.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:进一步包含嵌入交互面的电容传感器阵列和读头阵列,其中,当多个物体被放置在所述交互面上时,所述处理器捕捉到发生在任何一个物体上的电容动作。

7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:所述物体从一组物体中选择,包含:按钮,卡片,块体,薄片,玩偶或雕像。

8.一种用于捕捉施加于物体上的电容动作的系统,其特征在于:

包含:

-多个物体,每个所述物体内嵌一个电容标签,

-一个有效连接到处理器的电容传感器,

其中,第一物体放置在所述电容传感器上,所述电容传感器从“断开”状态转换为“接通”状态,接着一个电容动作施加于所述第一物体,所述电容传感器探测到所述第一物体的电容变化,所述处理器从所述电容传感器接收到一个代表所述电容变化的信号。

9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于:还包含有效连接到所述处理器的存储器,所述存储器存储了关于物体和被所述电容传感器探测到的所述物体的电容值的一套校正曲线,其中,所述处理器根据从所述电容传感器得到的电容值和所述校正曲线来判断哪个物体导致了所述电容动作。

10.一种用于捕捉施加于物体上的电容动作的方法,其特征在于:包含:

-在电容传感器上放置第一物体,从而将所述电容传感器从“断开”状态转换为“接通”状态,其中,第一物体在多个物体之中,每个所述物体内嵌一个电容标签和一个唯一识别码,

-向所述第一物体施加一个电容动作,

-有效连接到处理器的所述电容传感器探测到所述第一物体的电容变化,

-有效连接到所述电容传感器的所述处理器从所述电容传感器接收到一个代表所述电容变化的信号,

-所述处理器指示读头探测唯一识别码,所述读头有效连接到所述处理器,所述读头的探测范围包含所述电容传感器的探测范围。

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