[发明专利]液晶显示器及液晶显示器检测方法和电子装置

权利要求书

1.一种液晶显示器，包括玻璃基板及驱动芯片，所述驱动芯片设置于所述玻璃基板上，用于驱动所述液晶显示器，其特征在于，所述液晶显示器还包括测试线，所述测试线形成于所述玻璃基板中，且靠近所述玻璃基板的边缘延伸，所述驱动芯片包括输入引脚和输出引脚，所述测试线的两端分别连接至所述输入引脚和所述输出引脚形成闭合环路，所述玻璃基板包括上层板和下层板，所述上层板包括层叠设置的彩膜、彩膜保护层和上液晶配向膜，所述下层板包括层叠设置的公共电极层、像素电极层和下液晶配向膜，通过修改所述公共电极层或者所述像素电极层的掩模设计，在所述下层板上制作所述公共电极或所述像素电极的同时形成所述测试线，所述测试线形成于所述公共电极层的边缘处或形成于所述像素电极层的边缘处，通过在所述下层板上的走线将所述测试线电连接至所述驱动芯片。

2.如权利要求1所述的液晶显示器，其特征在于，所述测试线包括至少两条单线，所述至少两条单线并联连接于所述输入引脚和所述输出引脚之间。

3.如权利要求2所述的液晶显示器，其特征在于，所述输入引脚的数量为一个，所述输出引脚的数量亦为一个，所述至少两条单线的一端合并且连接至所述输入引脚，所述至少两条单线的另一端合并且连接至所述输出引脚。

4.一种电子装置，包括CPU和柔性电路板，其特征在于，所述电子装置还包括如权利要求1-3任意一项所述的液晶显示器，所述液晶显示器与所述CPU通过所述柔性电路板电连接，所述CPU用于判断所述测试线是否通路。

5.一种液晶显示器检测方法，其特征在于，所述液晶显示器检测方法包括：

在玻璃基板上形成测试线，所述测试线靠近所述玻璃基板的边缘延伸；

所述玻璃基板包括上层板和下层板，所述上层板包括层叠设置的彩膜、彩膜保护层和上液晶配向膜，所述下层板包括层叠设置的公共电极层、像素电极层和下液晶配向膜，通过修改所述公共电极层或者所述像素电极层的掩模设计，在所述下层板上制作所述公共电极或所述像素电极的同时形成所述测试线，所述测试线形成于所述公共电极层的边缘处或形成于所述像素电极层的边缘处，通过在所述下层板上的走线将所述测试线电连接至驱动芯片；

将所述测试线的两端分别连接至所述驱动芯片的输入引脚和输出引脚，使得所述测试线形成闭合环路；

在所述驱动芯片的输入引脚端输入电压，并在所述输出引脚端测量所述闭合环路的电流值或测量所述闭合环路的阻抗值；

将所述电流值或所述阻抗值反馈至电子装置的CPU，所述CPU用于判断所述测试线是否通路，从而判断所述玻璃基板是否存在裂纹。

6.如权利要求5所述的液晶显示器检测方法，其特征在于，在玻璃基板上形成测试线的过程包括将至少两条单线并联连接于所述输入引脚和所述输出引脚之间。

7.如权利要求6所述的液晶显示器检测方法，其特征在于，将所述至少两条单线的一端合并且连接至所述输入引脚，将所述至少两条单线的另一端合并且连接至所述输出引脚，所述输入引脚的数量为一个，所述输出引脚的数量亦为一个。

8.如权利要求5-7任意一项所述的液晶显示器检测方法，其特征在于，通过沉积或蒸镀的方法将所述测试线形成在所述玻璃基板上，所述测试线的材质为铟锡氧化物。