[实用新型]一种激光光路调节小孔测量板有效

专利信息
申请号: 201420815000.2 申请日: 2014-12-22
公开(公告)号: CN204346675U 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 农光壹;俞贤民;胡双龙;林培晨;林学春 申请(专利权)人: 江苏中科四象激光科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B5/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 212300 江苏省镇江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 调节 小孔 测量
【说明书】:

技术领域

实用新型属于激光领域,涉及激光光路的调试整形过程中的光路调节小孔测量板。

背景技术

激光器光路调试过程中需要将激光光路调节到高度一致、中心一致的线路上,这个过程中需要用到小孔,要求其既不阻挡激光,又可读其高度。

现有的激光光路调节小孔板只有小孔,且小孔可调,位置不确定,需要用卡尺或直角尺测量,因角度和放置位置变化,导致测量误差大,同时操作极为不便,调节效率低。

实用新型内容

针对以上问题,本实用新型的目的在于提供一种激光光路调节小孔测量板,是将调光小孔与高度刻度线整合为一体,方便了调光,避免了重复的光路高度测量工作,提高了光路的调试效率。

本实用新型的技术方案是通过以下方式实现的:一种激光光路调节小孔测量板,由小孔,刻度线,刻度面,基座上表面,通孔,基座,基座底面组成,所述的基座底面与所述的刻度面成垂直90度角,所述的刻度线刻在刻度面上,刻度线的中心线与基座中轴线重合,并且刻度线以毫米为单位间隔标示其与基座底面的高度差,其特征在于:所述的小孔在刻基座的中轴线上,并处于高出基座上表面刻度的位置。

所述的小孔同时位于基座的中轴线上,便于光路中心定位;小孔尺寸大小为激光光斑大小,便于激光通过小孔。

所述刻度面上沿着基座中轴线刻画了标准刻度线,使其直观地读出入射到刻度线上的激光光斑高度,便于调节,激光通过小孔,并可读出小孔的高度。

所述的刻度面表面毛化,其作用是当激光入射到刻度面,发生漫反射,降低反射亮度,不刺眼,便于观察激光光斑位置。

所述基座为实心的不锈钢,是其中部有一通孔的空心圆。其作用为便于操作移动小孔测量板。

本实用新型解决了激光器装调过程中光路调试的小孔与测量功能分离的问题,小孔与高度刻线一体化,实现小孔高度特征可视化,适用于激光器光路调试。具有制作简单,使用便捷,成本低廉的特点,可快速实现光路基准定位,提高光路调试效率。

附图说明

图1为小孔测量板的立体图;

图2为小孔测量板的剖面图;

图3为小孔测量板调光示意图。

具体实施方式

由图1知,为小孔测量板的立体图。一种激光光路调节小孔测量板,其基本结构由小孔1,刻度线2,刻度面3,基座上表面4,通孔5,基座6,基座底面7组成。所述的基座底面7与所述的刻度面3成垂直90度角。所述的刻度线2刻在刻度面3上,刻度面3上沿着基座中轴线刻画了标准刻度线2,其作用是可以直观地读出入射到刻度线上的高度,便于调节,使激光通过小孔1,并可读出小孔1的高度。刻度线2的中轴线与基座底面7垂直。并且刻度线以毫米为单位间隔标示其与基座底面7的高度差。刻度面3表面毛化,其作用是当激光入射到刻度面3时,发生漫反射,降低反射亮度,不刺眼,便于观察激光光斑位置。所述的小孔1在刻度线2的中轴线上,并处于高出基座上表面4刻度的位置。

由图2知,为小孔测量板的剖面图;小孔1尺寸大小为激光光斑大小,使激光可通过小孔。小孔1位于基座6的中轴线上,便于光路中心定位。所述基座6为实心的不锈钢,其中部有一通孔5的空心圆。其作用为便于操作小孔测量板。

由图3知,为光路调试示意图。激光调试前需要辅助光源用于指示放置光学器件的等高同心位置。辅助的光源光路必须与设计的光路等高同中心,因此辅助光源需要调试以满足要求。如图3所示把两个小孔测量板放置在设计好的激光光路上,使两个小孔测量板中轴线(即刻度面3上的中心线)与设计好的光路线路同轴,因两个小孔测量板上的中心等高,所以就可以保证两个小孔等高同心了,且与设计好的光路一致了。调节辅助光源的角度,使光源发射的激光同时通过前后两个小孔中心,此时两小孔之间的辅助光即为我们需要使用的辅助光,具有一致的高度与方向性。在需要使用到小孔的时候只需将小孔测量板移动至所需位置即可,不必重新测量高度。

使用时将小孔测量板放置在光学平台上,调节激光镜架使激光通过小孔即可获得小孔处的激光至光学平台的高度为小孔所在刻度的数值。使用两个小孔测量板放置在光学平台上让激光同时通过两个小孔即可获得等高的标准光路,其高度为小孔高度值。

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