[实用新型]一种测量凹陷深度的千分尺

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量仪器技术领域，特别涉及一种测量凹陷深度的千分尺。

背景技术

千分尺是螺旋测微器的别称，读数结果可以精确到0.01mm，现有的普通千分尺主要包括尺架、测砧、测量螺杆、锁紧装置、固定尺、可动尺、旋钮和微调旋钮。测量时，将待测物品放在测砧和测量螺杆之间，旋转旋钮，至快要夹紧时，旋转微调旋钮，测砧和测量螺杆夹紧物品，听到咔咔声后停止旋转，扳动锁紧装置后，进行读数。

现有的普通千分尺由于测砧和测量螺杆的测量基准面或均为平面，或均为尖端，或者测砧基准面为弧面而测量螺杆的基准面为平面，因此只能测量表面较为平整的物品的厚度，无法对表面凹陷处的深度进行准确测量。

综上所述，如何解决现有普通千分尺无法准确测量凹陷处深度的问题，成为了本领域技术人员亟待解决的问题。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种测量凹陷深度的千分尺。

为达到上述目的，本实用新型提供以下技术方案：

一种测量凹陷深度的千分尺，包括测砧和测量螺杆，所述测砧的基准面为平面，所述测量螺杆的端部为尖端。

优选的，在上述的测量凹陷深度的千分尺中，所述尖端为圆锥端。

优选的，在上述的测量凹陷深度的千分尺中，所述圆锥端的锥角为10°～30°。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型提供的测量凹陷深度的千分尺中，测砧的基准面为平面，测量螺杆的端部为尖端。在对表面凹陷的深度进行测量时，将测量螺杆的尖端伸入凹陷待测量处，测砧的基准面与物品另一面的表面接触，便可以进行凹陷深度的测量，解决了现有的千分尺测量基准面或均为平面，或均为尖端，或者测砧基准面为弧面而测量螺杆的基准面为平面，无法准确测量凹陷深度的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种测量凹陷深度的千分尺的结构示意图。

在图1中，1为测砧、101为基准面、2为测量螺杆、201为尖端、3为锁紧装置、4为固定尺、5为活动尺、6为旋钮、7为微调旋钮、8为尺架。

具体实施方式

本实用新型的核心是提供了一种测量凹陷深度的千分尺，可以对表面凹陷深度进行准确测量。

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参考图1，本实用新型实施例提供了一种测量凹陷深度的千分尺(以下简称千分尺)，包括尺架8、测砧1、测量螺杆2、锁紧装置3、固定尺4、活动尺5、旋钮6和微调旋钮7；其中，测砧1设置在尺架8的一端，与测量螺杆2相对设置，用于测量深度，测砧1的基准面101为平面，测量螺杆2的端部为尖端201。

上述千分尺的使用方法为：手持尺架8，使测砧1和测量螺杆2置于待测物品的两侧，并使尖端201指向具有凹陷的一侧，测砧1位于待测物品的另一侧，旋转旋钮6，活动尺5在固定尺4上移动，尖端201和测砧1逐渐靠近物品，尖端201伸入凹陷的待测量处，当快要接触到物品时，停止旋转旋钮6，改为旋转微调旋钮7，直至测砧1和尖端201均接触到物品并使微调旋钮7发出“咔咔”声时停止。将通过锁紧装置3将活动尺5固定在固定尺4上，读取读数，得到表面凹陷的深度。由于尖端201可以直接伸入凹陷深处，测砧1的平面可贴合在物品表面上，之间不会存在间隙，从而可以对物品表面凹陷处的深度进行准确测量。

对千分尺进行优化，如图1所示，测量螺杆2的尖端201为圆锥端，更进一步地，圆锥端的锥角为10°～30°中的任意数值，优选为20°。当然，尖端201还可以是针尖或者弧形尖端等，只要能够深入凹陷深处即可。不过圆锥端加工更加方便。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。