[实用新型]一种软恢复续流的二极管有效

专利信息
申请号: 201420656294.9 申请日: 2014-11-05
公开(公告)号: CN204167327U 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 黄福仁;黄赛琴;戴峰 申请(专利权)人: 福建安特微电子有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 351100 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 恢复 二极管
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及二极管制作技术领域,特别涉及一种软恢复续流的二极管。

背景技术

大功率快速软恢复二极管主要应用在高频电力电子电路中,它与主回路中的晶闸管或IGBT等新型电力半导体开关器件相并联,开关器件反向时,流过负载中的无功电流,减小电容的充电时间,同时抑制因负载电流瞬时反向而感应的过电压尖峰。传统的二极管的反向恢复时间不够快,耐压性不够;这样在硬开关过程中存在二极管反向恢复电流(Irm)增加了开关器件开通损耗率和过电压尖峰,并且在快速di/dt开关时能够产生电磁干扰。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题,在于提供一种软恢复续流的二极管,缩短二极管的反向恢复时间,提高反向恢复软度,同时使二极管具有较高的耐压,从而达到控制自调节发射效率和缩短反向恢复时间的目的。

本实用新型是这样实现的:一种软恢复续流的二极管,所述二极管的阳极和阴极之间的基区采用缓冲层结构,所述的缓冲层结构为:在基区的N区从上至下依次设置有N1区和N2区;在基区的P区中镶嵌有至少4个P+区;所述P区和4个P+区结构能控制空穴的注入效应。

进一步地,所述4个P+区均匀分布于P区。

本实用新型的优点在于:本发明在基区的N区从上至下依次设置有N1区和N2区;在基区的P区中镶嵌有至少4个P+区;快速软恢复二极管的基区和阳极之间采用缓冲层结构,使得在空间电荷区扩展后的剩余基区内驻留更多的残存电荷,并且驻留时间更长,提高了二极管的软度。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

请参阅图1所示,一种软恢复续流的二极管,所述二极管的阳极和阴极之间的基区采用缓冲层结构,所述的缓冲层结构为:在基区的N区从上至下依次设置有N1区和N2区;在基区的P区中镶嵌有至少4个P+区;所述P区和4个P+区结构能控制空穴的注入效应;在基区的N区从上至下依次设置有N1区和N2区,这样N1区和N2区增加了二极管的耐性。

其中,所述4个P+区均匀分布于P区。从而达到控制自调节发射效率和缩短反向恢复时间的目的。

总之,本发明在基区的N区从上至下依次设置有N1区和N2区;在基区的P区中镶嵌有至少4个P+区;快速软恢复二极管的基区和阳极之间采用缓冲层结构,使得在空间电荷区扩展后的剩余基区内驻留更多的残存电荷,并且驻留时间更长,提高了二极管的软度。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,凡依本实用新型申请专利范围所做的均等变化与修饰,皆应属本实用新型的涵盖范围。

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