[实用新型]一种全背电极P型晶硅异质结太阳电池结构有效
申请号: | 201420484205.7 | 申请日: | 2014-08-26 |
公开(公告)号: | CN204130563U | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 周洪彪;刘文峰;汪已琳 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
主分类号: | H01L31/0747 | 分类号: | H01L31/0747;H01L31/0224;H01L31/0236;H01L31/18 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 马强;刘佳芳 |
地址: | 410111 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电极 型晶硅异质结 太阳电池 结构 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种太阳能电池结构,具体涉及一种全背电极P型晶硅异质结太阳电池结构。
背景技术
随着晶硅太阳能电池技术不断发展,高效单晶硅太阳能电池研究已取得巨大成就。美国Sunpower公司开发的全背电极(IBC)电池结构,将其栅状电极全部设计到电池背面,正负极交叉排列,量产效率可达23%,实验室最高效率达到24.2%。2014年4月,松下公司宣布通过将异质结技术(HIT)和背面接触电极技术(IBC)相结合,其最新研发的商用尺寸(143.7cm2)单晶硅电池光电转换效率已达到25.6%,去年2月,松下采用101.8cm2硅片的HIT电池已经达到的24.7%的转换效率。松下公司此次的突破将效率提高了0.9个百分点,也打破了澳洲新南威尔士大学25%的晶硅电池效率世界记录。然而,Sunpower的IBC全背电极电池结构的制备工艺步骤已经非常繁多,松下公司提出的HIT和IBC结合电池,成本高势必也将成为大规模量产推广的瓶颈。此外,这类电池前表面绒面仍采用常规结构,因此前表面对光的吸收方面有很大提升空间。
此外,由于HIT和IBC技术结合的电池需要厚度比常规电池厚度更薄,这势必会降低硅片对光的吸收效果。然而,这类技术(如公开号为CN102214720A和CN102185031A等)都没有对硅片表面织构做特殊处理,会降低短路电流,所以需要增强硅片表面的陷光能力。在公开号为CN102214720A和CN102185031A的中国专利中采用PECVD法在硅片前表面沉积掺杂非晶硅薄膜,虽然也能达到提升开压的效果,但与传统扩散制备的晶硅扩散层无疑增加了生产成本。最致命的问题是,CN102214720A专利中“N型区域形成p+a-si/i-a-si/P-c-si/P+c-si/i-a-si/n-a-si异质结结构”中“背面P+c-si扩散晶硅层”的存在导致了势垒增加,大大降低了开路电压,因此需要去除N型区域该P+扩散层;而CN102185031A专利中P型区域的“前表面p+非晶硅薄膜/P型硅基底/P区电极”同样使得空穴很难越过势垒到达P区电极。
基于上述现有的技术的不足,需要开发一种简单廉价的太阳电池结构,进一步增强陷光能力,提高短路电流;优化电池结构和工艺,增加开路电压。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提出一种新的HIT与IBC制备电池技术相结合的结构,并采用黑硅技术将P型硅基底前表面制备成纳米绒面结构,设计出全新的电池结构,不仅提高电池对光的吸收能力、转换效率,提高短路电流,而且简化工艺步骤、降低生产成本。
本实用新型的技术方案是:
一种全背电极P型晶硅异质结太阳电池结构,包括P型硅基底,在所述P型硅基底的前表面上由里至外依次有纳米绒面层、P+型硼浅扩散晶硅层以及SiOx钝化/SiNx减反层;所述P型硅基底的背面分为N区、P区和位于N区、P区之间的开膜区;所述N区从上到下包括本征非晶硅薄膜层、n型非晶硅薄膜层、透明导电薄膜层和背电极层,且所述本征非晶硅薄膜层与P型硅基底的背表面连接;所述P区从上到下包括P++型硼重扩散晶硅层、透明导电薄膜层以及背电极层,且所述P++型硼重扩散晶硅层与所述P型硅基底的背表面连接。
所述P型硅基底优选为P型单晶硅或多晶硅,厚度为50μm~300μm。
所述纳米绒面层优选为类金字塔状、蜂窝状,纳米绒面层厚度为50nm~900nm。所述的硅片前表面纳米绒面结构具有极低的反射率,具有提高对光的吸收,增加太阳电池电流的作用。
所述P+型硼浅扩散晶硅层的厚度优选为0.1μm~0.5μm,方块电阻为50~200ohm/Sq。
所SiOx钝化/SiNx减反层的总厚度优选为25nm~150nm,其中SiOx钝化层的厚度为5nm~50nm,SiNx减反层的厚度为20nm~100nm,SiNx减反层的折射率为1.9~2.3。所述的硅片前表面钝化膜为SiOx薄膜具有很好的钝化作用,减少前表面载流子复合。所述的硅片前表面减反膜为SiNx薄膜具有很好的减反作用,降低前表面光的反射,增加光的吸收。
所述本征非晶硅薄膜层的厚度优选为1~50nm。它能起到很好的背面钝化作用。
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