[实用新型]一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路

权利要求书

1.一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：包括欠采样实现电路、控制电路、移位寄存器A、二选一MUX、移位寄存器B和CDF合成电路；

锁相环输出信号F_d和采样信号F_s接入至欠采样实现电路中，采样信号F_s同时为系统时钟，由欠采样实现电路输出的信号Q_out分别接入控制电路、移位寄存器A和二选一MUX；

控制电路的输出信号Select为二选一MUX的选通信号，控制电路的输出信号CDF_en_a和CDF_en_b分别接入移位寄存器A和移位寄存器B，分别作为移位寄存器A和移位寄存器B输出信号Shift_a和Shift_b的触发控制信号；

二选一MUX的输出信号接入至移位寄存器B中，移位寄存器A和移位寄存器B中的每一位都接入CDF合成电路，CDF合成电路的测量输出结果通过信号Shift_out输出。

2.如权利要求1所述的基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：所述移位寄存器A和移位寄存器B的位数相等，且均可以覆盖欠采样实现电路的输出信号Q_out边沿与理想输出信号边沿之间出现的最大偏差。

3.如权利要求2所述的基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路，其特征在于：所述移位寄存器A和移位寄存器B中的每个触发器的输出端都接入CDF合成电路。