[实用新型]双激励线圈导体缺陷自动探伤装置有效

专利信息
申请号: 201420121358.5 申请日: 2014-03-18
公开(公告)号: CN203745420U 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 杨浩轩;杨龙兴 申请(专利权)人: 江苏理工学院
主分类号: G01N27/90 分类号: G01N27/90
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 张建纲
地址: 213001 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 激励 线圈 导体 缺陷 自动 探伤 装置
【权利要求书】:

1.一种双激励线圈导体缺陷自动探伤装置,其特征在于:包括动力小车、单片机、探测板、激励线圈、巨磁阻传感器及继电器,所述单片机设置在动力小车内部,所述探测板设置在动力小车底面的一端,探测板两端分别通过弹簧与动力小车底面弹性连接,所述继电器与探测板连接并可控制探测板两侧向下翻转,所述探测板上固定有两个激励线圈,两激励线圈对称设置在探测板上,两激励线圈内分别设置有巨磁阻传感器,所述巨磁阻传感器底面与激励线圈底端处于同一水平面,巨磁阻传感器与单片机电连接。

2.如权利要求1所述的双激励线圈导体缺陷自动探伤装置,其特征在于:所述动力小车内均匀设置有若干滚轮,所述滚轮与直流电机连接。

3.如权利要求1所述的双激励线圈导体缺陷自动探伤装置,其特征在于:所述探测板包括左探测板及右探测板,左探测板及右探测板之间设置有销轴,左探测板、右探测板分别绕销轴翻转连接。

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