[实用新型]X-荧光光谱自旋式样品盒

说明书

技术领域

本实用新型涉及X-荧光光谱分析领域，具体地说是一种X-荧光光谱自旋式样品盒。

背景技术

在X-荧光光谱分析中，为了提高分析结果的准确度，对样品均匀性的追求总是永无止境。对于X-荧光光谱分析来说，均匀样品上的不同的发光点，其发光强度相同；不均匀样品上的不同的发光点，其发光强度不同。那么，就探测器而言，不均匀样品就具有因发光点位置上的差异而带来探测强度的不同，即样品上各个点对探测器的探测贡献是有差异的，而均匀样品就没有这种差异。

发明内容

本实用新型的技术任务是针对现有技术的不足，提供一种设计合理、使用效果好的自旋式样品盒。

如果改变上述这种发光点位置上的差异，就能改变探测强度的差异，也就能改变样品上各个点对探测器的探测贡献的差异。如果对各个发光点的位置进行适当的均衡平均，样品上各个点对探测器的探测贡献就会趋于均衡，使得探测强度趋于一致，即弱化了因样品不均匀导致的强度差异，即样品的不均匀性作用被弱化，也就是说对样品的不均匀性进行了适当抵消。而对样品进行均匀的旋转，使样品各个发光点的位置趋向于均衡平均，使得探测强度不再表现差异，从而呈现为出均匀样品的特征，即对样品的不均匀性有抵消作用。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

X-荧光光谱自旋式样品盒，包括盒体、盒盖、顶板、底板及面罩构成，盒盖旋接在盒体上端开口处，面罩抵压设置在盒体上端与盒盖之间，盒盖上开有透射孔，面罩上开有检测孔，底板外缘设置有外螺纹并与盒体内壁上设置的内螺纹相配合，顶板设置在底板上方的盒体内，顶板外径与盒体的内径大小相配合，在底板的中部安装有伺服马达，伺服马达的转轴与放置样品的顶板下表面中心部位相链接，使得顶板可以以转轴为中心转动；在底板中安装有与伺服电机相连接的电池槽。

所述的X-荧光光谱自旋式样品盒，其在顶板下表面的周边内侧安装有数个支撑轮，各支撑轮到顶板中心的距离相同，在底板上设置有与支撑轮相配合的环状导向槽。

所述的X-荧光光谱自旋式样品盒，其顶板外径与盒体的内径大小相同。

所述的X-荧光光谱自旋式样品盒，其顶板外径小于与盒体的内径。

所述的X-荧光光谱自旋式样品盒，其面罩上检测孔的直径小于盒盖上透射孔的直径，且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合。

本实用新型与现有技术相比，所产生的有益效果是：

对样品进行均匀的旋转，使样品各个发光点的位置趋向于均衡平均，使得探测强度不再表现差异，从而呈现为出均匀样品的特征，即对样品的不均匀性有抵消作用，使X-荧光光谱分析的适应性增强，以便更有效的扩展其应用范围，推动了X-荧光光谱分析技术的发展。

附图说明

附图1是本实用新型实施例一的结构示意图；

附图2是本实用新型实施例二的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作以下详细说明。

实施例一：

如附图1所示，本实用新型的自旋式样品盒，其结构包括盒体5、盒盖1、顶板6、底板7及面罩4构成，盒盖1旋接在盒体5上端开口处，面罩4抵压设置在盒体5上端与盒盖1之间，盒盖1上开有透射孔2，面罩4上开有检测孔3，底板6外缘设置有外螺纹并与盒体5内壁上设置的内螺纹相配合，顶板6设置在底板7上方的盒体5内，顶板6外径与盒体5的内径大小相配合，在底板7的中部安装有伺服马达10，伺服马达10的转轴与放置样品的顶板6下表面中心部位相链接，使得顶板6可以以转轴为中心转动；在底板7中安装有与伺服电机10相连接的电池槽9。

所述的X-荧光光谱自旋式样品盒，其顶板6外径小于与盒体5的内径。

所述的X-荧光光谱自旋式样品盒，其面罩4上检测孔3的直径小于盒盖1上透射孔2的直径，且检测孔3的轴心与透射孔2的轴心不重合。

实施例二：

如附图2所示，本实用新型的自旋式样品盒，其结构包括盒体5、盒盖1、顶板6、底板7及面罩4构成，盒盖1旋接在盒体5上端开口处，面罩4抵压设置在盒体5上端与盒盖1之间，盒盖1上开有透射孔2，面罩4上开有检测孔3，底板6外缘设置有外螺纹并与盒体5内壁上设置的内螺纹相配合，顶板6设置在底板7上方的盒体5内，顶板6外径与盒体5的内径大小相配合，在底板7的中部安装有伺服马达10，伺服马达10的转轴与放置样品的顶板6下表面中心部位相链接，使得顶板6可以以转轴为中心转动；在底板7中安装有与伺服电机10相连接的电池槽9。