[实用新型]一种电流可控的电容器浪涌测试电路有效

专利信息
申请号: 201420053204.7 申请日: 2014-01-27
公开(公告)号: CN203772982U 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 李俊;李亚飞;廖朝俊;蔡大俊;胡科正;张志光;蒋松成;江洪超;邓伟;李美霞 申请(专利权)人: 中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 谷庆红
地址: 550018 贵州省*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 电流 可控 电容器 浪涌 测试 电路
【权利要求书】:

1.一种电流可控的电容器浪涌测试电路,包括待测电容(C1)和提供动力源的外接电源(V1),所述外接电源(V1)的电压为可调式,其特征在于:还包括外接信号发生器(XFG1)、N沟道MOS管(1)和P沟道MOS管(2),所述N沟道MOS管(1)和P沟道MOS管(2)分别与所述待测电容(C1)两端及外接信号发生器(XFG1)相连接。

2.根据权利要求1所述的电流可控的电容器浪涌测试电路,其特征在于:所述N沟道MOS管(1)包括相互并联的第一至第四MOS管(Q1-Q4),所述第二、第三MOS管(Q2、Q3)之间还设有第一拨动开关(J1),所述第一拨动开关(J1)用于控制N沟道并联MOS管的数量。

3.根据权利要求1所述的电流可控的电容器浪涌测试电路,其特征在于:所述P沟道MOS管(2)包括相互并联的第五至第八MOS管(Q5-Q8),所述第六、第七MOS管(Q6、Q7)之间还设有第二拨动开关(J2),所述第二拨动开关(J2)用于控制P沟道并联MOS管的数量。

4.根据权利要求2或3所述的电流可控的电容器浪涌测试电路,其特征在于:所述N沟道MOS管(1)与所述外接信号发生器(XFG1)之间还设有第一耦合电容(C1),所述P沟道MOS管(2)与所述外接信号发生器(XFG1)之间还设有第二耦合电容(C2),所述第一、第二耦合电容(C1、C2)的大小为1μF且耐压大于200V。

5.根据权利要求4所述的电流可控的电容器浪涌测试电路,其特征在于:所述外接信号发生器(XFG1)输出为10Vpp的方波。

6.根据权利要求5所述的电流可控的电容器浪涌测试电路,其特征在于:所述N沟道MOS管(1)和P沟道MOS管(2)的耐压值均大于200V。

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