[发明专利]一种信息处理方法和电子设备有效
申请号: | 201410602806.8 | 申请日: | 2014-10-31 |
公开(公告)号: | CN105631848B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 杨晨;陈柯;肖蔓君;刘文静 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G06T7/529 | 分类号: | G06T7/529 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 蒋雅洁;张振伟 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 信息处理 方法 电子设备 | ||
1.一种信息处理方法,应用于电子设备,所述方法包括:
获得条纹结构光图像;
对所述条纹结构光图像执行第一区域识别,获得所述图像中的至少一个第一区域,每个所述第一区域中包括各自对应的第一物体的完整图像;
对每个所述第一区域分别执行基准条纹检测,获得每个所述第一区域内的基准条纹集,每个所述基准条纹集中包括至少一条基准条纹;
基于每个所述基准条纹集中各基准条纹的完整性和覆盖在第一物体上的条纹长度,对每个所述基准条纹集进行条纹筛选,获得用于第一物体深度恢复的参考条纹。
2.根据权利要求1所述信息处理方法,其特征在于,所述基于每个基准条纹集中各基准条纹的完整性和覆盖在第一物体上的条纹长度,对每个基准条纹集进行条纹筛选,获得用于第一物体深度恢复的参考条纹,包括:
对每个所述基准条纹集分别执行第一筛选处理,获得第一基准条纹子集,所述第一基准条纹子集由所述基准条纹集中有效数据量最大的第一预设数量的基准条纹组成;
对每个所述第一基准条纹子集分别执行第二筛选处理,获得第二基准条纹子集,所述第二基准条纹子集由所述第一基准条纹子集中分段数最少的第二预设数量的基准条纹组成;
对每个所述第二基准条纹子集分别执行第三筛选处理,获得第三基准条纹子集,所述第三基准条纹子集由所述第二基准条纹子集中经过所述第一物体的基准条纹组成;
对每个所述第三基准条纹子集分别执行第四筛选处理,选定落在所述第一物体上的最长基准条纹为用于第一物体深度恢复的参考条纹。
3.根据权利要求2所述信息处理方法,其特征在于,所述对每个基准条纹集分别执行第一筛选处理,获得第一基准条纹子集,包括:
统计每个所述基准条纹集中各基准条纹所包含的位置点的数量,从所述基准条纹集中选择位置点的数量最多的第一预设数量的基准条纹组成所述第一基准条纹子集。
4.根据权利要求2所述信息处理方法,其特征在于,所述对每个第一基准条纹子集分别执行第二筛选处理,获得第二基准条纹子集,包括:
根据每个所述第一基准条纹子集中的基准条纹所包含的位置点的坐标,统计每个基准条纹的连通域的数量,从所述第一基准条纹子集中选择连通域最少的第二预设数量的基准条纹组成所述第二基准条纹子集;
其中,每个基准条纹的所述连通域由所述基准条纹中坐标连续的位置点组成。
5.根据权利要求2所述信息处理方法,其特征在于,所述对每个第二基准条纹子集分别执行第三筛选处理,获得第三基准条纹子集,包括:
判断所述第二基准条纹子集中的每条基准条纹是否与所述第一物体有重叠的位置点,将与所述第一物体没有重叠位置点的基准条纹从所述第二基准条纹子集中去除,所述第二基准条纹子集中剩余的基准条纹组成所述第三基准条纹子集。
6.根据权利要求2所述信息处理方法,其特征在于,所述对每个第三基准条纹子集分别执行第四筛选处理,选定落在第一物体上的最长基准条纹为用于第一物体深度恢复的参考条纹,包括:
根据所述每个第三基准条纹子集中各基准条纹与所述第一物体重叠的位置点的坐标,计算所述各基准条纹落在第一物体上的长度,选定所述长度最大的基准条纹为用于第一物体深度恢复的参考条纹。
7.根据权利要求1至6任一项所述信息处理方法,其特征在于,所述对所述条纹结构光图像执行第一区域识别,获得所述图像中的至少一个第一区域,包括:
通过边缘提取算法,提取所述条纹结构光图像中的每个第一物体的边缘信息,并根据每个第一物体的边缘信息,确定每个第一物体对应的第一区域;
其中,第一区域覆盖所述第一物体的边缘信息。
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