[发明专利]一种显示面板的布线结构及显示面板

说明书

【技术领域】

本发明涉及显示面板技术领域，特别涉及一种显示面板的布线结构及显示面板。

【背景技术】

液晶显示装置(LCD，Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板中放置液晶分子，通过给玻璃基板的电路通电来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。

现有技术中，在将所述液晶显示面板组装成液晶显示装置前，液晶显示面板需要采用短路棒(Shorting Bar)技术进行良率检测，以检测液晶显示面板是否有坏点(MURA)或亮点(DOT/LINE)等缺陷。例如在Data侧，会将LCD信号线11(即红绿蓝(R/G/B)信号线)通过氧化铟锡(ITO，Indium tin oxide)与对应的测试线12连接在一起，之后将测试线12外引并连接至对应的探针13进行良率检测，可如图1a所示；当面板检测完成后，利用激光将LCD信号线11切断，以断开与测试线12的连接，即断开与检测系统的连接，可如图1b所示；良率检测完成后，在焊接区域14(bonding area)对LCD信号线11进行相关焊接后，面板可进行正常操作。

可是在实践中，发明人发现现有的显示面板检测系统在对显示面板进行完良率检测之后，显示面板检测系统可能就会直接丢弃掉，从而增加生产成本。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种显示面板的布线结构及显示面板，降低了制造成本。

为解决上述问题，本发明实施例的技术方案如下：

一种显示面板的布线结构，其中包括：

红绿蓝信号线；

三条信号控制线；以及

一开关控制线，所述开关控制线上设置有开关晶体管；

其中，每一所述信号线一端与相应的开关晶体管连接，且通过所述开关晶体管，与相应的信号控制线连接；

所述开关晶体管包括一控制端，用于接收控制信号，根据所述控制信号控制所述信号控制线与相应的信号线之间的导通或者断开。

在上述显示面板的布线结构中，当所述显示面板的布线结构用于对所述显示面板进行检测时：所述信号控制线，用于在所述信号控制线与相应的信号线之间导通时，接收检测信号，并根据所述检测信号对与所述信号控制线相应连接的信号线进行检测。

在上述显示面板的布线结构中，当所述显示面板的布线结构用于对触控面板进行控制时：所述信号线，用于在所述信号控制线与相应的信号线之间导通，且所述显示面板内像素单元和与其相连的薄膜晶体管之间断开时，接收并传输触控信号，将所述触控信号反馈至所述信号控制线。

在上述显示面板的布线结构中，所述开关控制线上设置有半导体层，所述半导体层上有所述开关晶体管。

在上述显示面板的布线结构中，所述开关晶体管为薄膜场效应管或者金属氧化层半导体场效晶体管。

为解决上述问题，本发明实施例的技术方案如下：

一种显示面板，其中包括一布线结构，所述布线结构包括：

红绿蓝信号线；

三条信号控制线；以及

一开关控制线，所述开关控制线上设置有开关晶体管；

其中，每一所述信号线一端与相应的开关晶体管连接，且通过所述开关晶体管，与相应的信号控制线连接；

所述开关晶体管包括一控制端，用于接收控制信号，根据所述控制信号控制所述信号控制线与相应的信号线之间的导通或者断开。

在上述显示面板中，当所述显示面板的布线结构用于对所述显示面板进行检测时：所述信号控制线，用于在所述信号控制线与相应的信号线之间导通时，接收检测信号，并根据所述检测信号对与所述信号控制线相应连接的信号线进行检测。

在上述显示面板中，当所述显示面板的布线结构用于对触控面板进行控制时：所述信号线，用于在所述信号控制线与相应的信号线之间导通，且所述显示面板内像素单元和与其相连的薄膜晶体管之间断开时，接收并传输触控信号，将所述触控信号反馈至所述信号控制线。

在上述显示面板中，所述开关控制线上设置有半导体层，所述半导体层上有所述开关晶体管。

在上述显示面板中，所述开关晶体管为薄膜场效应管或者金属氧化层半导体场效晶体管。