[发明专利]一种定位反射表面存在缺陷的反射镜的方法有效

专利信息
申请号: 201410481885.1 申请日: 2014-09-18
公开(公告)号: CN104198501B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 栾银森;许冰;高源;杨平;王帅;何星 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01M11/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 代理人: 杨学明,顾炜
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 定位 反射 表面 存在 缺陷 方法
【权利要求书】:

1.一种定位反射表面存在缺陷的反射镜的方法,该方法使用相机对光学系统成像,通过分析相机采集到的图像信息确定光学系统中是否有反射镜的反射表面存在缺陷,并利用相机参数和成像规律推算反射表面存在缺陷的反射镜的位置范围,其特征在于实现步骤如下:

(1)使用相机对光学系统成像;

(2)相机对焦于光学系统中一个反射镜的反射表面;

(3)判断相机对焦的反射表面是否存在缺陷;

(4)如果该反射镜的反射表面存在缺陷,则根据相机参数与高斯成像公式、景深计算公式等成像规律计算该反射镜的位置范围;

(5)如果相机对焦的反射镜的反射表面不存在缺陷,则相机对焦于下一个反射镜的反射表面,直到完成对焦所有反射镜的反射表面。

2.根据权利要求1所述一种定位反射表面存在缺陷的反射镜的方法,其特征在于:反射镜包括全反镜和半反半透镜。

3.根据权利要求1所述一种定位反射表面存在缺陷的反射镜的方法,其特征在于:反射表面存在的缺陷包括在反射镜生产、加工、使用过程中造成的反射表面的划痕、刻痕,空气中灰尘颗粒附着反射表面、反射表面镀膜层被高功率光线灼伤和反射表面镀膜过程中造成的瑕疵缺陷。

4.根据权利要求1所述一种定位反射表面存在缺陷的反射镜的方法,其特征在于:步骤(2)中,衡量相机是否准确对焦于反射镜的反射表面采用清晰度评价函数判定。

5.根据权利要求1所述一种定位反射表面存在缺陷的反射镜的方法,其特征在于:步骤(2)、(3)中,相机依照由远及近或者由近及远的顺序依次对焦于光学系统中反射镜的反射表面,判断反射表面是否存在缺陷的过程为:观察相机所成图像中清晰的部分是否存在由于反射表面缺陷而造成的相对于背景较亮或者较暗的点、斑、线或带,若存在则可确定该反射镜的反射表面存在缺陷。

6.根据权利要求1所述一种定位反射表面存在缺陷的反射镜的方法,其特征在于:步骤(4)中定位一个反射表面存在缺陷的反射镜的位置范围的过程如下:

1)根据相机参数,在相机中镜头到感光芯片的距离即像距为l',由高斯成像公式:

f'/l'+f/l=1

其中f'是像方焦距,f是物方焦距,l是物距;

可推算出成像清晰时的物距:

l=l'f/(l'-f')

2)根据景深计算公式可得:

近景位置P1为:

P1=f'l/(f'+Flε)

远景位置P2为:

P2=f'l/(f'-Flε)

其中f'是像方焦距,l是物距,ε是人眼的极限角分辨率,F是镜头光圈值;

3)得到表面存在缺陷的反射镜的位置范围为:

(P1,P2)。

7.根据权利要求1所述一种定位反射表面存在缺陷的反射镜的方法,其特征在于:步骤(5)中,相机完成依次对焦所有反射镜的反射表面的前提是所有反射镜均在相机可调对焦范围内。

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