[发明专利]器件参数的确定方法和装置

说明书

本发明公开了一种器件参数的确定方法和装置，其中，该方法包括：获取器件的第一类型的参数的第一参数值；从预先配置的对应于器件的模型中获取第一类型的参数的参考值、以及参考值与第二类型的参数的参考值之间的对应关系；根据对应关系、以及第一参数值，确定器件的第二类型的参数的第二参数值。本发明通过根据模型中包含的参数间的关系以及器件的某个参数的实际参数值来确定其他参数值，从而能够得到器件的多个参数值，能够在无需对器件进行复杂的测量的情况下，客观地获得器件的多个参数，有助于对器件或电路的实际情况进行更加准确的评估。

技术领域

本发明涉及电子设计领域，并且特别地，设计一种器件参数的确定方法和装置。

背景技术

在确定电子器件或电子器件组成的电路的实际性能时，需要参照各种参数。通常情况下，会借助与器件或电路对应的工业标准仿真模型(例如，可以参照BSIM模型)来确定器件或电路的参数。但是，工业标准仿真模型是预先给定的，其中的参数均是理想情况下的参数值。而在产品的实际制造当中，会因为很多因素导致产品的实际参数相对于模型中的参数出现偏差。

在根据模型中的理想参数值评估器件或电路的性能时，由于实际参数值与理想参数值之间的差异，所以必然将导致评估的结果与实际的客观结果之间存在差异，进而降低了评估的准确性。

针对相关技术中器件或电路评估准确性较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中器件或电路评估准确性较低的问题，本发明提出一种器件参数的确定方法和装置，能够更加客观地确定器件参数，有助于提高器件或电路评估结果的准确性。

本发明的技术方案是这样实现的：

根据本发明的一个方面，提供了一种器件参数的确定方法。

根据本发明的器件参数的确定方法包括：

获取器件的第一类型的参数的第一参数值；

从预先配置的对应于器件的模型中获取第一类型的参数的参考值、以及参考值与第二类型的参数的参考值之间的对应关系；

根据对应关系、以及第一参数值，确定器件的第二类型的参数的第二参数值。

其中，上述对应关系包括第一类型的参数的多个参考值与第二类型的参数的多个参考值之间的一一对应关系。

并且，在确定第二参数值时，根据一一对应关系确定第一类型的参数的参考值与第二类型的参数的参考值之间的变化关系，并根据变化关系、以及第一参数值与第一类型的参数的至少一个参考值之间的差，确定第二参数值。

并且，该方法可以进一步包括：

从模型中获取第一类型的参数的参考值与第三类型的参数的参考值之间的对应关系，并根据该对应关系、以及第一参数值，确定器件的第三类型的参数的第三参数值。

另外，该方法可以进一步包括：

从模型中获取第二类型的参数的参考值与第四类型的参数的参考值之间的对应关系，并根据该对应关系、以及第二参数值，确定器件的第四类型的参数的第四参数值。

此外，该方法还可以进一步包括：

根据器件的尺寸、以及器件的参数随尺寸而改变的变化关系，确定其他尺寸的器件参数。

该方法可以进一步包括：

根据第一参数值和第二参数值确定器件、和/或由器件组成的电路的性能。

根据本发明的另一方面，还提供了一种器件参数的确定装置。