[发明专利]器件参数的确定方法和装置有效
申请号: | 201410441793.0 | 申请日: | 2014-09-01 |
公开(公告)号: | CN105447214B | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 黄慕真;胡志中;曹宗良;朱峰 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/17 | 分类号: | G06F30/17 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 器件 参数 确定 方法 装置 | ||
1.一种器件参数的确定方法,其特征在于,包括:
获取器件的第一类型的参数的第一参数值,其中,所述第一类型的参数是从所述器件测得的部分所述器件参数;
从预先配置的对应于所述器件的模型中获取所述第一类型的参数的参考值、以及所述参考值与第二类型的参数的参考值之间的对应关系;
根据所述对应关系、以及所述第一参数值,推导所述器件的所述第二类型的参数的第二参数值,其中,所述第二类型的参数是所述器件参数的全部集合;
其中,所述推导所述第二参考值包括:
确定部分所述器件参数,部分所述器件参数不包括目标器件参数;
利用部分所述器件参数提取相关矩阵;
利用所述相关矩阵推导出所述目标器件参数,以推导所述器件参数的全部集合。
2.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,所述对应关系包括所述第一类型的参数的多个参考值与所述第二类型的参数的多个参考值之间的一一对应关系。
3.根据权利要求2所述的确定方法,其特征在于,在确定所述第二参数值时,根据所述一一对应关系确定所述第一类型的参数的参考值与所述第二类型的参数的参考值之间的变化关系,并根据所述变化关系、以及所述第一参数值与所述第一类型的参数的至少一个参考值之间的差,确定所述第二参数值。
4.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,进一步包括:
从所述模型中获取所述第一类型的参数的参考值与第三类型的参数的参考值之间的对应关系,并根据该对应关系、以及所述第一参数值,确定所述器件的所述第三类型的参数的第三参数值。
5.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,进一步包括:
从所述模型中获取所述第二类型的参数的参考值与第四类型的参数的参考值之间的对应关系,并根据该对应关系、以及所述第二参数值,确定所述器件的所述第四类型的参数的第四参数值。
6.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,进一步包括:
根据所述器件的尺寸、以及所述模型中所述器件的参数随尺寸而改变的变化关系,确定其他尺寸的器件参数。
7.根据权利要求1所述的确定方法,其特征在于,进一步包括:
根据所述第一参数值和所述第二参数值确定所述器件、和/或由所述器件组成的电路的性能。
8.一种器件参数的确定装置,其特征在于,包括:
第一获取模块,用于获取器件的第一类型的参数的第一参数值,所述第一类型的参数是从所述器件测得的部分所述器件参数;
第二获取模块,用于从预先配置的对应于所述器件的模型中获取所述第一类型的参数的参考值、以及所述第一类型的参数的参数值与第二类型的参数的参数值之间的对应关系;
根据所述对应关系、以及所述第一参数值,推导所述器件的所述第二类型的参数的第二参数值,所述第二类型的参数是所述器件参数的全部集合;
其中,所述推导所述第二参考值包括:
确定部分所述器件参数,部分所述器件参数不包括目标器件参数;
利用部分所述器件参数提取相关矩阵;
利用所述相关矩阵推导出所述目标器件参数,以推导所述第二参考值。
9.根据权利要求8所述的确定装置,其特征在于,所述对应关系包括所述第一类型的参数的多个参考值与所述第二类型的参数的多个参考值之间的一一对应关系。
10.根据权利要求9所述的确定装置,其特征在于,在确定所述第二参数值时,所述确定模块用于根据所述一一对应关系确定所述第一类型的参数的参考值与所述第二类型的参数的参考值之间的变化关系,并根据所述变化关系、以及所述第一参数值与所述第一类型的参数的至少一个参考值之间的差,确定所述第二参数值。
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