[发明专利]一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及自动化测试领域，尤其涉及一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统。

背景技术

晶体振荡器(晶振)是一种高精度、高稳定度的振荡器，广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类振荡电路中。晶体振荡器在使用和储存过程中，频率会伴随着时间发生变化，主要是由于晶片表面附着物的脱落、研磨过程中晶片造成的外力、晶体振荡器表面吸附的气体以及由于漏气造成的电极表面的改变等因素而引起，其主要体现在日老化率与年老化率。日老化率包括频率漂移、频率稳定度、老化曲线趋势及晃动等指标参数，年老化率是通过提高晶体振荡器的测试环境温度、缩短测试时间而模拟出来的年频率漂移。

目前，晶体振荡器的老化特性测试是采用人工操控测试设备而进行，通过手工采集数据，再完成测试结果的计算与判定。由于晶体振荡器的老化特性测试时间跨度长，所需的数据采集次数多，测试人员的工作强度大，测试效率低下；另外，伴随应用对晶体振荡器的性能需求不断提高，人工操控的测试方式已无法达到晶体振荡器的应用测试要求。例如,人工操控测试的参数设置不够准确、不能满足实际测试条件；人工采集数据及处理数据存在误差，容易造成误判漏判、数据无法追溯、能耗大等问题。

因此，现有的体振荡器的老化特性测试方法还有待改善。

发明内容

本发明的目的在于提出一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法及系统，能够解决现有人工测试的时间跨度长、测试误差大以及测试效率低下的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种晶体振荡器老化特性的自动测试方法，包括：

按照配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元，以监控待测晶体振荡器；

按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号以采集待测晶体振荡器在对应时间点的频率；

接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；

当确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成时，对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性。

其中，所述老化特性测试参数包括：待测晶体振荡器的工作电压、电流、温湿度以及通电烧钟延时；

所述按照预先配置的老化特性测试参数启动晶振测量单元具体为：

向晶振测量单元发送配置参数信息启动晶振测量单元，使其为待测晶体振荡器提供对应的工作电压、电流、温湿度条件。

其中，所述频率采集时间间隔为0.5～2小时。

其中，所述确定出待测晶体振荡器的老化特性测试完成的方式为：当接收到的所述频率的个数达到预设的总采集数时，确定为待测晶体振荡器的老化特性测试完成。

其中，所述对接收到的所述频率进行数据处理，得出待测晶体振荡器的老化特性具体包括:

分别计算各频率与待测晶体振荡器输出的标称频率的频率差值；

根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线；其中，以采集时间作为X轴，以频率差值作为Y轴；

根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性。

其中，所述根据所述频率差值、对应的采集时间得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线具体包括：

对所述频率差值组成的数据集进行移动平均滤波处理，以滤掉噪声数据；

根据滤波之后的频率差值数据集、对应的采集时间点得出待测晶体振荡器的XY坐标老化曲线。

其中，所述根据该XY坐标老化曲线确定待测晶体振荡器的老化特性，包括：

根据所述XY坐标老化曲线得出对应的曲线方程式，计算该曲线方程式在设定的老化测试时间段内的最大值M和最小值N；

通过公式(M-N)/t计算出待测晶体振荡器的日老化率；其中，t为老化测试的总天数；

根据所述日老化率模拟计算得出待测晶体振荡器的年老化率；

将所述日老化率、年老化率与预设的该待测晶体振荡器的老化特性指标进行比较，确定出待测晶体振荡器的老化特性是否合格。

一种晶体振荡器老化特性的自动测试系统，包括晶振测量单元、与所述晶振测量单元通信连接的测量控制单元，其中，

所述测量控制单元包括：

参数配置子单元，用于配置老化特性测试参数，向所述晶振测量单元发送参数配置信息；

流程控制子单元，用于按照预设的频率采集时间间隔产生频率采集信号，向晶振测量单元发送所述频率采集信号；

频率接收子单元，用于接收晶振测量单元返回的待测晶体振荡器在对应时间点的频率；