[发明专利]一种托盘及承载装置有效
申请号: | 201410396504.X | 申请日: | 2014-08-13 |
公开(公告)号: | CN105448794B | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 栾大为 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 100176 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 托盘 承载 装置 | ||
本发明提供了一种托盘及承载装置,托盘包括托盘本体和位于托盘本体上的绝缘体,在绝缘体上设置有多个用于承载基片的工艺位,并且,在绝缘体内设置有吸附电极,吸附电极的数量和位置与基片的数量和位置一一对应,借助每个吸附电极在其下方与直流电源电连接,以采用静电吸附方式固定与之对应的基片,并且,基片的面积大于与之对应的吸附电极的面积,用以遮挡该吸附电极。本发明提供的托盘,其可以提高绝缘体的未被基片遮挡的区域的耐压,因而在提高直流电源输出电压来保证静电吸附力的同时可以降低绝缘体被击穿的可能性,从而可以提高托盘的使用寿命,进而可以降低投入成本和提高经济效益。
技术领域
本发明属于微电子加工技术领域,具体涉及一种托盘及承载装置。
背景技术
图形化蓝宝石衬底(Patterned Sapphire Substrate,以下简称PSS)是目前较为主流的提高LED器件出光效率的衬底,通常采用干法刻蚀技术对存在掩膜图形的蓝宝石衬底进行刻蚀,以得到图像化的蓝宝石衬底。在进行PSS刻蚀工艺的过程中,为了提高单次工艺的产能,通常采用托盘承载多个基片并传送至反应腔室内的静电卡盘上,以能够同时对多个基片进行工艺加工。
图1为现有的托盘的结构示意图。请参阅图1,托盘10包括托盘本体11和位于托盘本体11上的陶瓷体12,在陶瓷体12上设置有多个用于承载基片S的多个承载位,在进行工艺之前,多个基片S一一对应放置在承载位上,并将承载有多个基片S的托盘10传入反应腔室内的静电卡盘上;在陶瓷体12内设置有平板电极层13,其厚度约0.01mm,其将陶瓷体12由上至下划分为上陶瓷体121和下陶瓷体122,在进行工艺时,将平板电极层13与直流电源DC电连接,通过等离子体起辉在基片上形成电压U(一般为对地电压),该电压U与直流电源DC提供给平板电极层13的电压之间存在电压差,因而托盘10与基片S之间存在静电引力,从而实现采用静电吸附的方式将基片S固定在托盘10上。
上述托盘10在实际应用中不可避免的存在下述问题:由于基片S的材质为蓝宝石衬底,其静电吸附难度较大,需要很大的静电吸附力,因此往往需要直流电源DC的输出电压大于3000V,且为了进一步保证对基片S的吸附力,平板电极层13距离陶瓷体12上表面的厚度一般为0.1mm,这使得上陶瓷体121的耐压值一般在3000V左右,在这种情况下,上陶瓷层121的与基片S对应的区域在工艺过程中由于受到基片S的遮挡不容易被击穿,而上陶瓷层121的未被基片遮挡的区域(如图2中阴影区域)会承受上述大于3000V的电压,使其容易被击穿,因而造成托盘的使用寿命低,从而造成投入成本大和经济效益低。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种托盘及承载装置,其可以提高绝缘体的未被基片遮挡的区域的耐压,因而在提高直流电源输出电压来保证静电吸附力的同时降低了绝缘体被击穿的可能性,从而可以提高托盘的使用寿命,进而可以降低投入成本和提高经济效益。
为解决上述问题之一,本发明提供了一种托盘,所述托盘包括托盘本体和位于托盘本体上的绝缘体,在所述绝缘体上设置有多个用于承载基片的工艺位,并且,在所述绝缘体内设置有吸附电极;所述吸附电极的数量和位置与所述基片的数量和位置一一对应,借助每个吸附电极在其下方与直流电源电连接,以采用静电吸附方式固定与之对应的基片,并且,所述基片的面积大于与之对应的所述吸附电极的面积,用以遮挡所述吸附电极。
其中,在各个所述吸附电极的下方还设置有平板电极层,每个所述吸附电极在其下方通过导线均与所述平板电极层电连接,借助所述平板电极层与所述直流电源电连接,以实现各个所述吸附电极与所述直流电源电连接。
其中,各个所述吸附电极借助在其下方设置的导线实现各个吸附电极串联,所述导线与所述直流电源电连接,以实现各个所述吸附电极与所述直流电源电连接。
其中,每个所述吸附电极与所述绝缘体上表面之间的间距的范围在0.1~0.3mm。
其中,每个所述吸附电极与所述平板电极层之间的间距≥0.4mm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京北方华创微电子装备有限公司,未经北京北方华创微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410396504.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:形成有源区的方法及半导体器件
- 下一篇:柔性显示器件的制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造