[发明专利]一种利用故障耦合矩阵分析系统单粒子软错误传播过程的方法有效
申请号: | 201410352364.6 | 申请日: | 2014-07-23 |
公开(公告)号: | CN104123225A | 公开(公告)日: | 2014-10-29 |
发明(设计)人: | 杨俊;王跃科;邢克飞;何伟;胡梅;杨道宁;刘思恺 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人: | 周长清 |
地址: | 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 故障 耦合 矩阵 分析 系统 粒子 错误 传播 过程 方法 | ||
1.一种利用故障耦合矩阵分析系统单粒子软错误传播过程的方法,其特征在于,将系统进行功能模块划分,分析功能模块之间信号联系和逻辑关系相互影响因素,确定单粒子软错误传播耦合因子;然后,建立系统的单粒子软错误耦合矩阵,修改两两功能模块之间耦合因子对应的矩阵元;接下来,建立系统功能模块的故障状态向量,模拟功能模块发生单粒子软错误发生之后系统故障状态向量的变化,统计系统发生故障的功能模块数,分析单粒子软错误在系统中的传播影响过程。
2.根据权利要求1所述的利用故障耦合矩阵分析系统单粒子软错误传播过程的方法,其特征在于,所述功能模块是能够完成独立任务的单元,组合起来构成整个系统。
3.根据权利要求1或2所述的利用故障耦合矩阵分析系统单粒子软错误传播过程的方法,其特征在于,将所述电路系统划分为N个功能模块后,功能模块的故障相互耦合概率用一个N×N的矩阵表示,即为单粒子软错误耦合矩阵;一个所述功能模块故障对另一个所述功能模块输出结果的影响概率记为相应的一个矩阵元,在系统中故障每传播一步即为系统各个功能模块的故障状态向量与该矩阵相乘一次。
4.根据权利要求3所述的利用故障耦合矩阵分析系统单粒子软错误传播过程的方法,其特征在于,将单粒子软错误敏感系统的各个功能模块的状态视为一个行向量,当系统处在正常运行状态时,每个功能模块的故障概率即对应向量矩阵单元值为0;假设某一功能模块发生单粒子软错误,相应的向量矩阵单元值由0变为大于等于1,然后利用单粒子软错误耦合矩阵,模拟其在系统中的传播过程。
5.根据权利要求4所述的利用故障耦合矩阵分析系统单粒子软错误传播过程的方法,其特征在于,在传播过程中设定一个故障阈值,当功能模块的故障概率大于该阈值时,即认为该功能模块处在故障状态,在模拟过程中记录处在故障状态的功能模块数;当处于故障状态的功能模块数不再发生变化,即认为单粒子软错误的传播过程已经结束,此时系统的故障功能模块数为系统最终的单粒子软错误传播演化状态。
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