[发明专利]触控侦测电路

权利要求书

1.一种触控侦测电路，其特征在于，包括：

一触控单元，依据被触碰状态以提供一侦测信号；

一比较单元，耦接该触控单元，提供一参考电流，该比较单元并依据该侦测信号以及一第一参考电压的电压差来产生一触控状态电流，该比较单元比较该参考电流以及该触控状态电流来产生一比较电压；以及

一触控结果产生单元，耦接该比较单元，依据该比较电压来提供一触控结果信号。

2.如权利要求1所述的触控侦测电路，其特征在于，该触控单元包括：

一二极管，其阳极耦接一参考电压源，其阴极提供该侦测信号；以及

一光侦测晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，其第一端耦接该二极管的阴极，该光侦测晶体管的第二端及控制端相互耦接至一第二参考电压。

3.如权利要求2所述的触控侦测电路，其特征在于，该二极管为一晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，该晶体管的第一端耦接该参考电压源，该晶体管的第二端及控制端共同耦接并提供该侦测信号。

4.如权利要求2所述的触控侦测电路，其特征在于，该光侦测晶体管以及该二极管用以对该参考电压源与该第二参考电压的电压差进行分压以产生该侦测信号。

5.如权利要求1所述的触控侦测电路，其特征在于，该比较单元包括：

一二极管，其阳极耦接一参考电压源，其阴极产生该比较电压，该二极管用以产生该参考电流；以及

一第一晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，该第一晶体管的第一端耦接至该二极管的阴极，该第一晶体管的第二端与控制端的其中之一接收该侦测信号，且该第一晶体管的第二端与控制端的其中之另一耦接该第一参考电压，该第一晶体管依据该侦测信号以及该第一参考电压的电压差来产生该触控状态电流。

6.如权利要求5所述的触控侦测电路，其特征在于，该二极管为一第二晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，该第二晶体管的第一端接收该参考电压源，该第二晶体管的控制端以及第二端共耦接至该第一晶体管的第一端。

7.如权利要求1所述的触控侦测电路，其特征在于，该触控单元包括：

一第一二极管，其阳极耦接一参考电压源，其阴极提供该侦测信号；

一第一光侦测晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，其第一端耦接该第一二极管的阴极，该第一光侦测晶体管的第二端及控制端相互耦接至一第二参考电压；

一第二二极管，其阳极耦接该参考电压源，其阴极提供该第一参考电压；以及

一第二光侦测晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，其第一端耦接该第二二极管的阴极，该第二光侦测晶体管的第二端及控制端相互耦接至一第三参考电压。

8.如权利要求1所述的触控侦测电路其特征在于，该比较单元包括：

一第一晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，其第一端耦接一参考电压源，其第二端产生该比较电压；

一二极管，其阳极耦接该第一晶体管的第二端，其阴极耦接至该第一晶体管的控制端，该二极管用以产生该参考电流；以及

一第二晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，该第一晶体管的第一端耦接至该二极管的阴极，该第二晶体管的控制端接收该侦测信号，且该第二晶体管的第二端耦接该第一参考电压，该第一晶体管依据该侦测信号以及该第一参考电压的电压差来产生该触控状态电流。

9.如权利要求8所述的触控侦测电路，其特征在于，该二极管为一第三晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，该第三晶体管的第一端耦接至该第一晶体管的第二端，该第三晶体管的第二端及控制端共同耦接至该第二晶体管的第一端。

10.如权利要求1所述的触控侦测电路，其特征在于，该触控结果产生单元包括：

一第一晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，其第一端接收一参考电源，该第一晶体管的控制端耦接该比较电压；以及

一第二晶体管，具有第一端、第二端以及控制端，其第一端耦接至该第一晶体管的第二端，该第二晶体管的控制端接收一扫描讯号，该第二晶体管的第二端产生该触控结果信号。