[发明专利]日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置及方法

权利要求书

1.日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征是，包括：

光源（1）；

暗箱（2），位于所述光源（1）的前方，所述暗箱（2）的侧面设置有一个入光口；

可伸缩屏蔽罩（3），位于所述入光口和所述光源（1）之间；

会聚透镜（4），位于所述可伸缩屏蔽罩（3）内，用于将光源（1）出射光全部收集以供测试；

陷阱探测器（5），位于所述暗箱（2）内部，用于探测所述光源（1）的输出光电流；

屏蔽盒（7），位于所述暗箱（2）内部，用于盛载待测像增强器（6），对所述待测像增强器（6）进行有效电磁屏蔽；

静电计（11），连接所述待测像增强器（6）的输出信号端，用于探测光源（1）通过待测像增强器（6）后的输出电信号。

2.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述光源（1）为窄带高稳定mW级并加有准直物镜的LED，所述LED沿同一高度按波长顺序水平放置。

3.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述会聚透镜（4）位置距离陷阱探测器（5）与屏蔽盒（7）均为所述会聚透镜（4）焦距长度。

4.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述陷阱探测器（5）与探测装置（10）配合使用，所述陷阱探测器（5）的相对光谱响应度已知；所述探测装置（10）为弱电流放大器。

5.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述屏蔽盒（7）材料为铁，可有效屏蔽静电，且表面喷有氧化铝黑色喷漆，防止反射杂散光。

6.根据权利要求1所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，所述静电计（11）的灵敏度小于等于10^-12A量级。

7.根据权利要求1-6任意一项所述的日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，还包括

精密位移平台（8），位于所述陷阱探测器（5）与所述屏蔽盒（7）的下方，用于控制所述陷阱探测器（5）与所述屏蔽盒（7）的位置，使所述陷阱探测器（5）与屏蔽盒（7）轮流对准所述暗箱（2）的入光口；

暗箱导轨（9），位于所述暗箱（2）的下方，用于移动所述暗箱（2）的位置，使入光口依次对准所述光源（1）。

8.根据权利要求7所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置，其特征在于，所述精密位移平台（8）与所述暗箱导轨（9）均为电控位移台。

9.根据权利要求7所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置的方法，其特征在于，该方法由以下步骤实现：

步骤一、关闭暗箱（2）的入光口，使陷阱探测器（5）上无光照进入，测量所述陷阱探测器（5）的输出电信号作为暗电流噪声，将所述陷阱探测器（5）调零，对所述暗电流噪声进行补偿；打开暗箱（2）的入光口，调整陷阱探测器（5）对准暗箱（2）的入光口，所述陷阱探测器（5）探测所述光源（1）的输出光电流I₀(λ)；

步骤二、关闭所述暗箱（2）的入光口，使待测日盲紫外像增强器（6）上无光照进入，由所述静电计（11）测量待测像增强器（6）的输出电信号，即为暗电流噪声，将获得的暗电流噪声设定为静电计（11）的参考值；

步骤三、打开暗箱（2）的入光口，调节精密位移平台（8）使所述待测日盲紫外像增强器对准所述暗箱（2）的入光口，由所述静电计（11）测量光源（1）通过所述待测日盲紫外像增强器（6）的输出电流信号I_t(λ)；

步骤四、根据步骤一和步骤三获得的电信号，计算日盲紫外像增强器（6）带外相对光谱响应度：

式中，σ₀为陷阱探测器的相对光谱响应度。

10.根据权利要求9所述的日盲紫外滤光片带外截止深度测试装置的方法，其特征在于，通过控制暗箱导轨（9）使暗箱（2）的入光口依次对准不同光谱的光源（1），重复步骤一至步骤四，测量光源（1）不同光谱下的日盲紫外像增强器（6）带外相对光谱响应度。