[发明专利]一种用于外径千分尺测量的支撑定位装置

说明书

技术领域

本发明涉及用于外径千分尺测量的支撑定位技术领域，具体地说是一种用于外径千分尺测量的支撑定装置，是在立车、立磨测量已加工外圆表面时，用于外径千分尺测量而使用的支撑定位装置，彻底解决因千分尺重量因素对测量结果的影响，有效提高测量的准确率。

背景技术

在立车、立磨测量已加工外圆表面时，传统的外径千分尺测量方法一为：先将外径千分尺尺架，平放于左右两臂，左右手用力握住外径千分尺，测砧和测微螺杆的护套处，右手同时用拇指、食指旋拧棘轮旋柄；方法二为：左手用力握住外径千分尺尺架中部，右手用拇指、食指旋拧棘轮旋柄。方法三为：左手用力握住外径千分尺支架中部，左臂悬垂伸出，使外径千分尺于被测外圆水平线重合，右手旋转棘轮旋柄。以上三种方法，都是将外径千分尺的全部重量，传递到测量者的手腕和双臂上，同时还要找正测量位置，再用右手拇指、食指旋拧棘轮旋柄，费时、费力测量误差大。长时间用力抓握外径千分尺的尺架，手臂、手腕易产生疲劳，测量准确率大幅下降。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于外径千分尺测量的支撑定位装置，彻底解决传统测量方法，因为外径千分尺自身重量原因，造成在测量已加工外圆表面时产生的测量误差，有效提高测量的准确率。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：在立车、立磨测量已加工外圆表面时，将外径千分尺测量的支撑定位装置的支架底座，水平摆放于已加工外圆柱的端面上，长螺杆与已加工外圆中心线大致重合即可，再将外径千分尺的尺架中部架在V型支板的V型凹槽内，手动旋转升降套在长螺杆的上部做上下垂直移动，使外径千分尺的测砧、测微螺杆的测量端面，到达外圆柱的已加工外圆表面，操作者左手轻轻扶住外径千分尺的测砧套外部，右手握住棘轮旋柄，做上下、左右轻微摆动，找到被测外圆表面的最高点，用拇指、食指旋拧棘轮旋柄，即可。现在可以松开双手，观察外径千分尺的测砧、测微螺杆的测量端面，与已加工表面位置是否正确，并读取测量数值。如果还要测量已加工外圆表面的不圆度，可再次松开棘轮旋柄，将V型支板与外径千分尺同时，在外径千分尺测量的支撑定装置上旋转90°或任意角度，再次测量已加工表面，即可。

本发明的有益效果是，整体结构设计合理，操作使用方便，外径千分尺的全部重量都传递到支撑定装置上，又从支撑定装置分三等份，传递到被测量外圆柱的端面，支撑牢固可靠，有效的解放出双手，使双手只用于测量位置的寻找，每次测量的使用时间都比传统测量方法用时短，而且准确度高。尤其在大规格外径千分尺测量时，效果更加明显。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的外径千分尺测量的支撑定装置(主视图)。

图2是本发明的V型支板(主视图)。

图3是本发明的V型支板(左视图)。

图4是本发明的V型支板、沉头螺栓、连接盘、升降套(主视图)。

图5是本发明的长螺杆、锁紧螺母、支架底座(俯视图)。

图6是本发明的测量示意图。

具体实施方式

图中：1、V型支板，2、沉头螺钉，3、联接盘，4、升降套，5、长螺杆，6、锁紧螺母，7、支架底座。

从图1～5中可知，外径千分尺测量的支撑定位装置由：V型支板1、沉头螺钉2、联接盘3、升降套4、长螺杆5、锁紧螺母6、支架底座7组成。

从图2～4中可知，V型支板1的顶部有一个与外径千分尺尺架匹配的V型凹槽，夹角为120°。

从图4中可知，联接盘3的中间孔与升降套4的外圆为孔轴间隙配合，升降套4的顶面与V型支板1的底面之间有0.5mm间隙。

测量外圆柱已加工表面时，将外径千分尺测量的支撑定位装置的支架底座7，水平摆放于已加工外圆柱的端面上，长螺杆5与已加工外圆中心线大致重合即可，再将外径千分尺的尺架中部架在V型支板1的V型凹槽内，手动旋转升降套4在长螺杆5的上部做上下垂直移动，使外径千分尺的测砧、测微螺杆的测量端面，到达外圆柱的已加工外圆表面，操作者左手轻轻扶住外径千分尺的测砧套外部，右手握住棘轮旋柄，做上下、左右轻微摆动，找到被测外圆表面的最高点，用拇指、食指旋拧棘轮旋柄，即可。现在可以松开双手，观察外径千分尺的测砧、测微螺杆的测量端面，与已加工表面位置是否正确，并读取测量数值。如果还要测量已加工外圆表面的不圆度，可再次松开棘轮旋柄，将V型支板与外径千分尺同时，在外径千分尺测量的支撑定装置上旋转90°或任意角度，再次测量已加工表面，即可。