[发明专利]基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法在审
申请号: | 201410138256.9 | 申请日: | 2014-04-08 |
公开(公告)号: | CN104021542A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 胡伏原;董治方;吴宏杰 | 申请(专利权)人: | 苏州科技学院 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06K9/46 |
代理公司: | 苏州慧通知识产权代理事务所(普通合伙) 32239 | 代理人: | 安纪平 |
地址: | 215009 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 极限 约束 sift 特征 匹配 优化 方法 | ||
1.一种基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,通过特征点的检测、特征点的分集以及集合的更新实现优化操作。
2.根据权利要求1所述的基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,检测每幅图像中所有SIFT特征点,并提取每个特征点的128维描述符向量,在影像0和影像1中匹配特征点,利用向量间欧式距离在影像1特征点中寻找与影像0中每个特征点最近的和次进的两个特征点,分别计算最近特征点和次进特征点的距离,并将最近特征点/次进特征点记为比率,此时,影像0中每个特征点都有一个比率值。
3.根据权利要求2所述的基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,在影像0所有特征点中,找出比率<0.382的所有点存入点集合V1中;在点集合V1中计算每个特征点与影像1中最近的特征点间的像素距离,并将0<像素距离<3的特征点存入集合V11中,3≤像素距离<6的特征点存入集合V12中,将6≤像素距离<80的特征点存入集合V13中。
4.根据权利要求3所述的基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,所述集合V11为优质点集合,所述集合V12为待测点集合,所述集合V13为标准点集合。
5.根据权利要求3或4所述的基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,更新所述集合V12。
6.根据权利要求3或4所述的基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,更新所述集合V13。
7.根据权利要求5所述的基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,将更新后的集合V12合并到所述集合V11中。
8.根据权利要求6所述的基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,将更新后的集合V13合并到所述集合V11中。
9.根据权利要求7或8所述的基于极限约束的SIFT特征匹配点优化方法,其特征在于,所述最优化集合为集合V11、更新后的集合V12和更新后的集合V13的合并集合。
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