[发明专利]多系统合路平台及其检测漏缆故障点的方法

权利要求书

1.一种多系统合路平台，包括无源组件及与所述无源组件电性连接的合路器，其特征在于，所述多系统合路平台还包括检测模块；

所述检测模块包括信号发生器、时钟控制器、检波器、选择开关及中央控制单元；

所述信号发生器可通过所述选择开关与所述合路器连接，用于接收中央控制单元的指令以发送测试信号至被测漏缆；

所述检波器可通过所述选择开关与所述合路器连接，用于接收所述漏缆阻抗变换点反射的所述测试信号，并将所述测试信号在所述阻抗变换点的反射功率转化为反射电压；

所述时钟控制器与所述中央控制单元、信号发生器、检波器连接，用于监测所述测试信号的发射时间和监测所述测试信号在所述漏缆的阻抗变换点的反射时间；

所述选择开关与所述中央控制单元连接，以根据所述中央控制单元输出的开关控制信号切换所述合路器与信号发生器或检波器之间的连接状态；

所述中央控制单元还分别与所述信号发生器、时钟控制器和检波器连接，用于向所述信号发生器输出一个发射测试信号的指令、根据所述时钟控制器所监测的时间数据和所述检波器所转化的电压数据计算所述阻抗变换点的驻波比并判断所述漏缆的故障点位置。

2.根据权利要求1所述的多系统合路平台，其特征在于，所述中央控制单元包括与所述合路器电连接的FPGA电路板及与所述FPGA电路板连接的MCU；

所述MCU包括分别与FPGA连接的参数输入单元、处理单元和界面显示单元，并且所述处理单元分别与所述参数输入单元和界面显示单元连接；

所述参数输入单元用于向所述信号发生器输出一个发射测试信号的指令，所述处理单元用于根据所述时钟控制器所检测的时间数据和所述检波器所转化的电压数据计算并判断所述漏缆的故障点位置，所述界面显示单元用于显示出所述计算、判断的结果。

3.根据权利要求2所述的多系统合路平台，其特征在于，所述检波器的输入端和输出端分别与所述合路器和所述FPGA连接。

4.一种如权利要求1至3任一项所述的多系统合路平台实施的检测漏缆故障点的方法，其特征在于，包括以下步骤：

所述中央控制单元根据检测命令发送第一开关控制信号，控制所述选择开关连接于所述合路器与信号发生器之间，并驱使信号发生器发送测试信号至需检测的漏缆，并由时间控制器监测测试信号的发射时间，所述信号发生器发送所述测试信号的电压幅度为入射电压；

所述中央控制单元发送第二开关控制信号，控制所述选择开关连接于所述合路器与所述检波器之间，通过所述时间控制器监测发送第二开关控制信号的时间，通过所述检波器检测反射功率，并将所述反射功率转化为反射电压；

根据所监测的时间数据和电压数据计算并判断所述漏缆的故障点位置。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述根据所监测的时间数据和电压数据计算并判断所述漏缆的故障点位置的步骤包括：

根据所述时间数据计算所述阻抗变换点到所述多系统合路平台的距离；

根据所述电压数据计算所述漏缆阻抗变换点的反射系数，进而根据所述反射系数计算阻抗变换点的驻波比；

将所述驻波比与预设的漏缆驻波比门限值对比，从而判断该阻抗变换点是否故障点，如果是故障点，则结合所述距离判断漏缆的故障点位置。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述漏缆阻抗变换点到所述多系统合路平台的距离L的计算公式为：其中，L为长度，C为光在真空中的速度，T为时间，ε_r为介电常数。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述漏缆阻抗变换点的反射系数的计算公式为:其中，ρ为反射系数，Vi为入射电压，Vr为反射电压。

8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括所述多系统合路平台对经过故障点判断后继续在所述漏缆中传输的信号进行衰落补偿的步骤。