[发明专利]一种基于石墨烯场效应管的微区加热方法及结构在审
| 申请号: | 201410114348.3 | 申请日: | 2014-03-25 |
| 公开(公告)号: | CN103839835A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
| 发明(设计)人: | 王慧山;王浩敏;孙秋娟;刘晓宇;谢红;陈吉;吴天如;张学富;邓联文;谢晓明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
| 地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 石墨 场效应 加热 方法 结构 | ||
1.一种基于石墨烯场效应管的微区加热方法,其特征在于,所述基于石墨烯场效应管的微区加热方法至少包括步骤:
1)制备基于石墨烯的场效应管,所述石墨烯具有窄边微区结构,所述场效应管的背面设置有背栅;
2)在所述石墨烯两端的电极之间加电压源或电流源,通过调节背栅电压来调制所述窄边微区结构的电阻,从而实现窄边微区结构的高温加热;所述加热的温度范围为100~1200℃。
2.根据权利要求1所述的基于石墨烯场效应管的微区加热方法,其特征在于:制备基于石墨烯的场效应管的步骤至少包括:
1-1)提供一目标衬底;
1-2)将制备的石墨烯转移到所述目标衬底的表面;
1-3)在所述石墨烯上依次旋涂第一光刻胶和第二光刻胶,对所述第一光刻胶进行曝光显影之后,对所述第二光刻胶进行显影以暴露石墨烯表面,所述第一光刻胶和第二光刻胶形成T型结构,在暴露的石墨烯表面沉积金属层,形成电极;
1-4)采用电子束曝光工艺图形化所述石墨烯,并通过氧化刻蚀工艺刻蚀所述石墨烯,从而形成具有窄边微区结构的石墨烯薄膜。
1-5)在所述目标衬底的背面沉积金属层形成背栅。
3.根据权利要求2所述的基于石墨烯场效应管的微区加热方法,其特征在于:所述步骤1-2)中制备石墨烯的步骤为:
1-2-1)提供一生长衬底,对所述生长衬底进行抛光处理,并对所述生长衬底进行清洗;
1-2-2)将所述生长衬底置于反应腔中,对所述反应腔进行抽真空后通入H2气并升温至一定温度,然后对所述生长衬底进行等离子体预处理;
1-2-3)保持通入H2气并通入CH4,采用等离子体增强化学气相沉积法于所述生长衬底表面生长石墨烯薄膜。
4.根据权利要求1所述的基于石墨烯场效应管的微区加热方法,其特征在于:所述窄边微区结构的尺寸设置为50~200nm。
5.根据权利要求1所述的基于石墨烯场效应管的微区加热方法,其特征在于:所述石墨烯为规则且对称的图形。
6.根据权利要求5所述的基于石墨烯场效应管的微区加热方法,其特征在于:所述石墨烯的图形形状为蛇型、哑铃型或镂空型。
7.根据权利要求1所述的基于石墨烯场效应管的微区加热方法,其特征在于:在所述石墨烯两端施加的电流范围为I,0<I≤0.2mA。
8.一种基于石墨烯场效应管的微区加热结构,其特征在于,所述基于石墨烯场效应管的微区加热结构至少包括:基于石墨烯的场效应管,所述石墨烯具有窄边微区结构。
9.根据权利要求8所述的基于石墨烯场效应管的微区加热结构,其特征在于:所述基于石墨烯的场效应管的结构包括:目标衬底、制作于所述目标衬底上且具有窄边微区结构的石墨烯、设置于所述石墨烯两端表面上的电极、以及设置于所述目标衬底背面的背栅。
10.根据权利要求8或9所述的基于石墨烯场效应管的微区加热结构,其特征在于:所述窄边微区结构的尺寸设置为50~200nm。
11.根据权利要求8所述的基于石墨烯场效应管的微区加热结构,其特征在于:所述石墨烯为规则且对称的图形。
12.根据权利要求11所述的基于石墨烯场效应管的微区加热结构,其特征在于:所述石墨烯的图形形状为蛇型、哑铃型或镂空型。
13.一种利用权利要求8~12任一项所述的基于石墨烯场效应管的微区加热结构进行加热的用途。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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