[发明专利]一种钨铜薄片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201410100200.4 申请日: 2014-03-19
公开(公告)号: CN104209532B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 杨义兵;苏国平;钟铭;韩蕊蕊 申请(专利权)人: 安泰天龙(天津)钨钼科技有限公司;安泰天龙钨钼科技有限公司;宝鸡京龙钨钼科技有限公司
主分类号: B22F9/24 分类号: B22F9/24;B22F3/00;B22F1/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 苏红梅
地址: 301800 天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 薄片 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.钨铜弥散粉用于轧制钨铜薄片的用途,

优选地,所述的钨铜薄片符合微电子封装要求。

2.权利要求1的用途,其中所述的钨铜弥散粉由钨、铜化学共沉淀法制取,

优选地,所述的钨铜弥散粉中的钨粒度平均为1微米左右,

进一步优选地,所述的钨铜弥散粉的费氏粒度为5~30微米,

更优选地,所述的钨铜弥散粉中钨的重量百分比含量为50~90%。

3.一种钨铜薄片,由钨铜弥散粉轧制而成,

优选地,所述的钨铜弥散粉由钨、铜化学共沉淀法制取,

进一步优选地,所述的钨铜弥散粉中的钨粒度平均为1微米左右,

更优选地,所述的钨铜弥散粉的费氏粒度为5~30微米,

更进一步优选地,所述的钨铜弥散粉中钨的重量百分比含量为50~90%。

再进一步优选地,所述的钨铜薄片符合微电子封装要求。

4.权利要求3的钨铜薄片,所述的钨铜薄片密度为99.75%TD以上,气密性氦质谱仪检漏<2×10-9Pa·m3/s,钨、铜富集区<0.03mm。

5.权利要求3或4的钨铜薄片的制备方法,该方法的原料为钨铜弥散粉,优选地,所述的钨铜弥散粉由钨、铜化学共沉淀法制取,

进一步优选地,所述的钨铜弥散粉中的钨粒度平均为1微米左右,

更优选地,所述的钨铜弥散粉的费氏粒度为5~30微米,

更进一步优选地,所述的钨铜弥散粉中钨的重量百分比含量为50~90%。

6.权利要求5的制备方法,该方法是将钨铜弥散粉经过压制、烧结、轧制得到钨铜薄片。

7.权利要求5或6的制备方法,该方法包括以下步骤:

(1)钢模压制成型

将钨铜弥散粉用液压机钢模压制成型,得到钢模成型压坯;

(2)冷等静压复压

将步骤(1)得到的钢模成型压坯在冷等静压机中复压处理,得到复压坯;

(3)高温烧结

将步骤(2)得到的复压坯在氢气氛钼丝炉中高温烧结,得到烧结坯;

(4)热轧

将步骤(3)得到的烧结坯用两辊轧机热轧,然后进行退火处理,根据烧结坯厚度重复热轧和退火步骤,得到退火态热轧钨铜板材,然后对退火态热轧钨铜板材进行表面处理;

(5)温轧

对步骤(4)的经过表面处理的退火态热轧钨铜板材进行温轧,然后进行退火处理,得到退火态温轧钨铜板材;

(6)冷轧

对步骤(5)的退火态温轧钨铜板材进行冷轧处理,最终退火、压平,得到钨铜薄片。

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