[发明专利]一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置。

背景技术

液晶面板中的柱状隔垫物的良率会直接影响整个液晶面板的显示效果，目前，在彩膜工厂使用全数检查机检测柱状隔垫物的缺陷，并监控各个型号产品的柱状隔垫物良率。柱状隔垫物的图像具有周期性，而目前对于柱状隔垫物的检出存在很大的漏检和误检，由于在制作柱状隔垫物工艺中存在柱状隔垫物异物和柱状隔垫物缺失等问题，导致严重影响其柱状隔垫物的良率。

现有技术针对柱状隔垫物检测是通过五点比对方法来检测的，具体的检测如图1所示。图中，10表示彩膜基板中的红色（R）子像素俯视图，11表示彩膜基板中的绿色（G）子像素俯视图，12表示彩膜基板中的蓝色（B）子像素俯视图，13、14、15、16和17分别表示位于彩膜基板和阵列基板之间的柱状隔垫物俯视图，其中，以柱状隔垫物俯视图13为测试点，柱状隔垫物俯视图14、15、16和17为参考点，在测试过程中，若13的灰度值为A1，14的灰度值为A2，15的灰度值为A3，16的灰度值为A4，17的灰度值为A5。若上述五个灰度值的大小关系为：A2<A3<A5<A4<A1，取五个灰度值的中间值A5，当︱A1-A5︱大于设定值时，表示测试的柱状隔垫物俯视图13对应的柱状隔垫物存在缺陷，当︱A1-A5︱小于设定值时，表示测试的柱状隔垫物俯视图13对应的柱状隔垫物无缺陷，这里的设定值对于不同的生产工艺其值也不同，目前该设定值一般为30或50，这种通过五点比对方法来检测柱状隔垫物的方法存在一定的弊端，由于柱状隔垫物是透明状，对于光源不是特别敏感，其灰度反应出来的数据波动较小。

综上所述，现有技术中检测柱状隔垫物的方法无法准确的检查出柱状隔垫物存在的缺陷，并且当有大范围面积的柱状隔垫物缺失时，则无法进行检测，从而无法监控柱状隔垫物工艺。

发明内容

本发明实施例提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法及装置，用以准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。

本发明实施例提供的一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，所述方法包括：

获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；

将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；

检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；

计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标。

由本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法，包括：获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像；将所述液晶面板俯视图像以预先设置的标准图像的像素大小为单位划分为若干区域，将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，确定与所述标准图像不同的第一子区域图像；检测每个所述第一子区域图像的灰度值，确定不在预设灰度值范围的第二子区域图像；计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标，因此，本发明实施例提供的检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的方法能够准确的检测柱状隔垫物的缺陷，实时监控柱状隔垫物工艺，确保柱状隔垫物良率的稳定增长。

较佳地，所述计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标后，所述方法还包括：

计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型。

这样，由于计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物在所述液晶面板俯视图像中的位置坐标后，所述方法还包括计算所述第二子区域图像中的柱状隔垫物的缺陷类型，极大的方便了后续对柱状隔垫物缺陷的修复。

较佳地，所述获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，包括：

通过CCD相机获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像。

这样，通过CCD相机获取包含所述柱状隔垫物的液晶面板俯视图像，在实际检测过程中方便、简单。

较佳地，所述将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，包括：通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对。

这样，通过模板匹配法将每个区域的图像与所述标准图像进行比对，在实际检测过程中可以方便、简单的确定与所述标准图像不同的第一子区域图像。

本发明实施例还提供了一种检测液晶面板柱状隔垫物缺陷的装置，所述装置包括：