[发明专利]用于光纤宏弯损耗测量时弯曲光纤的装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及光纤通信领域，具体涉及用于光纤宏弯损耗测量时弯曲光纤的装置和方法。

背景技术

在单模光纤弯曲损耗测量中，通常需要将光纤弯曲成一定直径的圈，通过对比光纤弯曲状态与未弯曲状态时光学特性的变化来测量光纤的宏弯损耗，即光纤弯曲后形成的附加损耗。目前弯曲光纤的方法一般是使用单一的绕柱，将光纤手工环绕在绕柱上，然后使用重物压住或者夹住光纤后进行测量。

然而在测试不敏感光纤等特殊单模光纤时，需要对光纤进行多次绕圈，由于光纤弯曲后自身的应力使得光纤容易发生弹开，从而使得光纤固定与测量发生困难，另一方面在现有光纤测量中夹持光纤一般都采用机械夹持机构，但是该机构通常采用金属或者金属与橡胶配合结构，工作效率低，容易损伤光纤涂层。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是解决现有弯曲光纤装置采用独立绕线柱而使得效率低且容易损伤光纤涂层的问题。

为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是提供一种用于光纤宏弯损耗测量时弯曲光纤的装置，包括底座，所述底座上设有若干组具有不同直径的绕线柱和若干个光纤夹持条，每个所述光纤夹持条上沿其长度方向均布设有若干个用于夹持光纤的断裂口，每组所述绕线柱沿所述底座长度方向的中心线分别左右对称设置，所述底座上设有与所述绕线柱和所述光纤夹持条分别适配的圆形安装槽和条形通孔。

在上述方案中，所述光纤夹持条包括第一光纤夹持条和若干个第二光纤夹持条，所述第一光纤夹持条设置在所述底座长度方向的中心线位置上，若干个所述第二光纤夹持条沿所述底座周边布设。

在上述方案中，所述绕线柱包括设置在所述底座长度方向的中心线左右两侧，且直径最大的第一组绕线柱，所述第一组绕线柱内嵌套有并排设置的第二组绕线柱和第三组绕线柱，所述第二组绕线柱和所述第三组绕线柱的直径之和不大于所述第一组绕线柱的直径。

在上述方案中，所述绕线柱还包括设置在以所述第一组绕线柱为圆心圆周上的第四、第五、第六和第七组绕线柱。

在上述方案中，每个所述绕线柱的顶部均设有环形突起。

在上述方案中，所述第一组绕线柱与其内部嵌套的所述第二、第三组绕线柱可以同时安装使用，也可以不同时安装使用。

在上述方案中，所述断裂口的长度大于2mm，缝隙宽度小于0.1mm。

在上述方案中，所述光纤夹持条采用橡胶或者泡沫材质。

在上述方案中，所述绕线柱采用卡装或者螺纹连接的方式设置在所述底座上，所述光纤夹持条采用卡装的方式设置在所述底座上。

本发明还提供了一种利用如上述用于光纤宏弯损耗测量时弯曲光纤的装置进行测量的方法，包括以下步骤：

将需要测量的光纤的一端穿过光纤夹持条的断裂口并被牢牢夹持住；

将所需的具有不同直径的绕线柱安装于对应的圆形安装槽内，光纤的中间部分按照所需的测试要求以不同的圈数环绕在绕线柱上；

完成绕线动作后稍微拉紧光纤，并将光纤的另一端穿过其他的光纤夹持条的断裂口并夹持住；

使用仪器测量光纤在弯曲状态下的光学参数，然后将光纤一端从光纤夹持条上取下并松开被绕制在绕线柱上的中间部分；

从光纤夹持条上将光纤的另一端也取下来，并整理光纤至无弯折状态；

然后，使用仪器测量光纤在未弯曲状态下的光学参数并最终得到光纤的宏弯损耗数值。

本发明能够快速的将光纤绕制在不同直径的绕线柱上并予以固定，同时快速的将光纤解除弯曲与固定状态，然后通过测试仪器测定光纤的宏弯损耗，该发明克服了光纤宏弯损耗测试中光纤弯曲程序繁琐、光纤不易固定、测试效率低下的问题。

本发明的有益效果是，将传统光纤宏弯损耗测试过程中使用到的所有绕线柱集成安装到了一个安装底座上，使得绕线柱，特别是小直径的绕线柱在测试时能够稳定的保持竖直向上的状态，因此，本装置在环绕光纤时更容易，同时本发明采用多个圆形安装槽组合嵌套的结构，空间紧凑，使得整套装置小巧，容易携带，多种尺寸的绕线柱可以根据测试需要任意组合安装，本发明中采用的光纤夹持条设计，通过泡沫或者橡胶变形后自身的应力来夹持固定光纤，效率高且不易损伤光纤涂层，光纤夹持条被安放在稳固的底座上进一步保证了光纤固定操作的便利性与稳定性，整套装置有效的提高了光纤测试中弯曲操作的效率。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明分解结构示意图；

图3为本发明中底座的结构示意图；

图4为本发明中光纤夹持条的结构示意图；