[发明专利]质谱法中操作滤质器的方法

权利要求书

1.一种质谱方法，包括：

将离子从一个离子源传输穿过一个滤质器；

提供一个用于处理从该滤质器接收的离子的、在该滤质器下游的、不连续的离子光学装置；

在一个质荷比（m/z）过滤模式下操作该滤质器多个周期，以将在一个或多个选择的m/z范围内的离子传输至该不连续的离子光学装置；并且

在其中该不连续的离子光学装置不处理来自该滤质器的离子的一个或多个周期的过程中，在一个宽质量范围模式下操作该滤质器，该宽质量范围模式传输的离子的质量范围比在该m/z过滤模式下传输的任何质量范围实质上更宽。

2.如权利要求1所述的方法，其中，该宽质量范围模式是一个实质上非m/z过滤模式。

3.如权利要求1或2所述的方法，包括将该滤质器在传输的不同m/z范围之间切换至少一次，其中为了减少该滤质器的一个或多个表面的荷电，该切换包括一个时间间隔，在该时间间隔的过程中该滤质器在该实质上非过滤模式下被操作。

4.如权利要求3所述的方法，包括将该滤质器在传输的不同m/z范围之间切换多次，其中为了减少该滤质器的一个或多个表面的荷电，每个切换包括一个时间间隔，在该时间间隔的过程中该滤质器在该实质上非过滤模式下被操作。

5.如权利要求1所述的方法，其中，在其中该不连续的离子光学装置处理从该滤质器接收的离子的周期之间的空闲时间中，该滤质器在该宽质量范围模式下被操作。

6.如权利要求5所述的方法，其中，在实质上所有此类空闲时间中，该滤质器在该宽质量范围模式下被操作。

7.如以上任何一项权利要求所述的方法，其中，该宽质量范围模式是一个实质上仅RF模式，其中该滤质器的电极供应有实质上仅RF电压。

8.如权利要求7所述的方法，其中，DC/RF电压比率是0、或不大于0.001、或不大于0.01、或不大于0.025、或不大于0.05、或不大于0.06。

9.如以上任何一项权利要求所述的方法，其中，在该宽质量范围模式下运行的周期的持续时间平均超过至少：在该过滤模式下运行的周期的持续时间的a)1%、或b)5%、或c)10%、或d)20%、或d)30%、或e)40%、或f)50%。

10.如以上任何一项权利要求所述的方法，其中，该质量分析器是一个多极滤质器，优选一个四极滤质器。

11.如以上任何一项权利要求所述的方法，其中，该穿过该滤质器的离子传输是连续的。

12.如以上任何一项权利要求所述的方法，其中，该不连续的离子光学装置是一个脉冲离子光学装置。

13.如以上任何一项权利要求所述的方法，其中，该不连续的离子光学装置是一个离子阱、或离子偏转器、或一个正交加速器。

14.如权利要求13所述的方法，其中，该不连续的离子光学装置是一个线性离子阱，优选一个弯曲的线性离子阱（C-阱）。

15.如以上任何一项权利要求所述的方法，其中，用该不连续的离子光学装置处理离子的持续时间被在一个下游质量分析器中分析所述离子的持续时间超过。

16.如以上任何一项权利要求所述的方法，进一步包括在该不连续的离子光学装置下游的一个质量分析器中分析已经被该不连续的离子光学装置处理过的离子。

17.如权利要求16所述的方法，其中，该质量分析器是以下各项之一：傅里叶变换（FTMS）质量分析器、FT-ICR质量分析器、静电轨道阱质量分析器、TOF质量分析器、离子阱质量分析器以及动态运行的四极质量分析器。