[发明专利]一种OLED器件光电特性测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及器件光电特性测试领域，特别涉及一种OLED器件光电特性测试系统。 

背景技术

目前，以有机发光二极管（OLED）为代表的半导体发光器件，有机发光二极管显示器(OLED)凭借其自发光、响应速度快、工作电压低、面板厚度小、宽工作温度区间、宽视角、可制作大尺寸可挠性面板等众多优点，拥有广阔的应用前景，是目前最热门的显示技术。OLED成为了最有潜力的显示技术。 

虽然有机发光二极管（OLED）显示技术近年来得到了迅速的发展，但整体上技术上还不是很成熟，尤其是国内的OLED技术，还处在起步阶段。对于一个要走入市场的显示器件来说，我们需要对它的各方面的性能进行测试表征，以达到业界的显器件标准。目前针对OLED光电性能测试的设备十分有限，并且功能单一。 

因此，对于生产厂家以及需求单位需要一种新的电路系统，用以对有机发光二极管器件(OLED)进行光电特性测试，且必须研制低成本、高速度、以及稳定的测试系统，才能大范围地推广应用，从而真正地满足需求。 

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺点与不足，提供一种OLED器件光电特性测试系统。 

本发明的目的通过以下的技术方案实现： 

一种OLED器件光电特性测试系统，包括 

用于提供人机交互界面和发出指令的计算机； 

用于接受计算机发出的指令并输出交流脉冲控制信号及反馈方式控制信号并与多通道ADC、DAC1、DAC2进行通信的单片机； 

用于将从交流驱动电路采集到的模拟信号转换为数字信号并传送给单片机的多通道ADC； 

用于将单片机的控制信号转换为模拟信号并传送给OLED驱动与采集电路的DAC1、DAC2; 

用于接受交流脉冲控制信号和反馈方式控制信号输出测试结果的OLED驱动与采集电路； 

以及用于提供参考电压的电压参考源和用于校正的温度传感器； 

其中计算机与单片机连接,所述单片机分别与多通道ADC、DAC1、DAC2连接,多通道ADC分别与电压参考源、温度传感器、OLED驱动与采集电路连接，OLED驱动与采集电路分别与DAC1、DAC2连接，DAC1、DAC2均为数模转换器，ADC为模数转换器。 

所述的OLED驱动与采集电路包括模拟运算电路、交流驱动电路、亮度采集电路，其中所述的单片机输出的交流脉冲控制信号和反馈方式控制信号发送至交流驱动电路；所述的DAC1、DAC2通过模拟运算电路与交流驱动电路连接；所述交流驱动电路第一输出信号V_PV、V_PI、V_NV、V_NI通过模拟运算电路与多通道ADC连接；所述交流驱动电路与亮度采集电路连接；所述亮度采集电路通过模拟运算电路与多通道ADC连接；所述多通道ADC将信号输出至单片机。 

所述的模拟运算电路为一个反向比例运算放大电路。 

所述的交流驱动电路以交流脉冲的方式驱动OLED。交流脉冲的交流占空比可调，可实现1%～90%的占空比。 

所述的亮度采集电路包括硅光电二极管、R3、R4和运算放大器，硅光电二 极管将接受的光转为电信号通过由R3、R4、运算放大器组成的运算放大电路转换为输出的电压VL。 

所述的OLED器件光电特性测试系统还包括SD卡，单片机将所测得的结果存放在SD卡。 

本发明与现有技术相比，具有如下优点和有益效果： 

本发明利用单片机作为控制芯片，能够灵活控制OLED的驱动电压及波形；针对器件参数随温度漂移的而导致的测试误差，本系统利用温度传感器采集温度信息，然后利用单片机对测试误差进行补偿，使得本系统能够达到高的测试精度；利用板载的存储器存储实时数据，提高了数据传输的速度，可以脱离PC机进行独立测试，提高了系统的可靠性。 

附图说明

图1为本发明所述的OLED器件光电特性测试系统的结构示意图； 

图2为图1所述系统的OLED驱动与采集电路结构示意图； 

图3为图1所述系统的交流驱动电路原理图； 

图4为图1所述系统的模拟运算电路原理图； 

图5为图1所述系统的亮度采集电路原理图。 

具体实施方式

下面结合实施例及附图对本发明作进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。 

如图1、2，一种OLED器件光电特性测试系统，包括