[发明专利]色谱数据处理装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种对三维色谱数据进行处理的色谱数据处理装置，所述三维色谱数据是通过对包含经液相色谱仪等色谱仪分离的成分的试样或经流动注射(flow injection)法导入的试样反复进行分光分析或质量分析而收集，更详细而言，涉及一种用于判定在色谱中出现的来自于目标成分的波峰中有无杂质等其它成分重合的数据处理装置。

背景技术

在利用光电二极管阵列(photo diode array，PDA)检测器等多通道型检测器作为检测器的液相色谱仪中，通过以对流动相注入试样的时点为基点，对从管柱(column)出口溶出的试样液反复获取吸光光谱，可获得具有时间、波长及吸光度这三个维度的三维色谱数据。并且，在利用质谱仪作为检测器的液相色谱仪(liquid chromatograph，LC)或气相色谱仪(gas chromatograph，GC)中，通过在质谱仪中反复进行规定的质量电荷比范围的扫描测定，可获得具有时间、质量电荷比及信号强度这三个维度的三维色谱数据。在以下的说明中，举出利用PDA检测器的液相色谱仪为例，但是在将质谱仪作为检测器的色谱仪中情况也是同样。

图8的(a)是通过所述液相色谱仪而获得的三维色谱数据的示意图。通过从所述三维色谱数据中提取特定的波长(例如λ0)下的吸光度数据，可制作表示所述特定的波长λ0下的测定时刻(即保持时间)与吸光度的关系的如图8的(b)所示的波长色谱。此外，通过从三维色谱数据中提取表示在特定的时点(测定时刻)的吸光度的数据，也可以制作表示在所述时点的波长与吸光度的关系的吸光光谱。

在这样的液相色谱仪中，进行已知的目标成分的定量分析时，通常，制作与所述目标成分相对应的吸收波长下的波长色谱。然后，通常是找到在所述波长色谱中出现的来自于目标成分的波峰的起点Ts及终点Te，计算所述波峰的面积值，并对照预先求出所述面积值的标准曲线而算出定量值。

以如上所述方式对目标成分进行定量时，如果所提取的波长色谱中出现的波峰是只来自于目标成分的波峰则没有问题，但是波峰不一定仅限于来自单一成分(目标成分)，而经常有重合着来自于分析者不想要的杂质(广而言之为其它成分)的信号的情况。如果分析者未留意到这种情况而进行定量计算，则会损害定量精度。因此，在定量计算之前，会再三进行杂质判定处理(或波峰纯度判定处理)，调查在色谱中出现的某个波峰是否只来自于目标成分，或者是否含有杂质。

作为针对色谱上的波峰的杂质判定处理，迄今为止已提出有各种方法，并且已投入实际应用。但是，实际状况是现有的方法皆有短长，而没有建设性的的方法。

例如专利文献1所述的杂质判定方法中，是通过对在各测定时刻分别获得的吸光光谱在目标成分的极大(或极小)吸收波长下沿波长方向进行微分而求出波长微分系数，从而制作表示所述波长微分系数的随时间变化的微分色谱。然后，判定是否在所述微分色谱上观测到如通常的色谱中出现般的波峰波形，由此判断波长色谱上的来自于目标成分的波峰是否含有杂质。所述方法虽然是可通过比较简单的运算处理来以高准确度判定杂质的有无的优异方法，但是如以下所述，原理上存在无法检测出杂质的情况。

图9的(a)～(c)是表示来自于目标成分的吸光光谱(实线)与来自于杂质的吸光光谱(虚线)的关系的一例的图。

在所述现有的杂质判定方法中，如图9的(a)所示，是将来自于目标成分的吸光光谱的极值的波长λ0、即波长微分系数为0的波长下的杂质的吸光光谱曲线的波长微分系数用于杂质判定。因此，如图9的(a)所示，当在杂质的吸光光谱中吸光度表示极大值的波长与波长λ0不一致，而所述光谱曲线在波长λ0下具有倾斜度时，可检测出杂质。但是，如图9的(b)所示，当来自于目标成分的吸光光谱的极值与来自于杂质的吸光光谱的极值出现在同一波长中时，杂质的吸光光谱曲线的波长微分系数大致为零，因此无法检测出杂质。

并且，如图9的(c)所示，当在来自于目标成分的吸光光谱的极值附近来自于杂质的吸光光谱的曲线的倾斜度小(在极端的情况下为平坦)时，即使制作微分色谱，来自于杂质的波峰也过小，从而被埋没在噪声中，结果有可能无法检测出杂质。

再者，利用PDA检测器等对通过未使用管柱的流动注射分析(Flow Injection Analysis，FIA)法而导入的试样进行检测时所获得的数据也成为具有时间、波长及吸光度这三个维度的三维数据，从而与通过液相色谱仪而收集的三维色谱数据实质上相同。因此，本说明书中的“三维色谱数据”是设为也包括通过FIA法而收集的三维数据。

现有技术文献

专利文献