[发明专利]色谱数据处理装置

权利要求书

1.一种色谱数据处理装置，对针对作为测定对象的试样而收集的包含时间、信号强度及其以外的第三维度的三维色谱数据进行处理，所述色谱数据处理装置的特征在于包括：

滤波器制作部，算出与多维的主向量正交的一个副向量，将所述副向量确定为杂质提取用的滤波器，所述多维的主向量是利用向量来表达如下光谱，即表示关于作为观测对象的目标成分的第三维度与信号强度的关系的光谱；以及

含杂质信息获取部，计算处理对象多维向量与副向量的内积，基于其计算结果判断在所述处理对象的光谱中有无所述目标成分以外的杂质，所述处理对象多维向量是利用向量来表达如下光谱，即基于三维色谱数据所求出的光谱，其中三维色谱数据是基于针对作为测定对象的试样而获得的测定数据之中，与第三维度相对应的强度而获得，所述副向量被确定为所述滤波器。

2.根据权利要求1所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述含杂质信息获取部针对伴随着时间经过的在各测定时点获得的处理对象的光谱，分别计算表示所述光谱的向量与作为滤波器的向量的内积，并基于按照时间序列的所述内积的值的变化来判断有无存在杂质。

3.根据权利要求2所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述滤波器制作部是以表示处理对象的光谱的向量与表示所述滤波器的向量的余弦相似度成为最大的方式，来确定表示所述滤波器的向量的方向。

4.根据权利要求3所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述滤波器制作部求出在各测定时点求出的杂质提取用的滤波器即多个向量的平均向量，所述含杂质信息获取部利用所述平均向量，计算针对表示在各测定时点的处理对象的光谱的各向量的内积。

5.根据权利要求3所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述滤波器制作部求出在各测定时点求出的杂质提取用的滤波器即多个向量的聚类平均，所述含杂质信息获取部利用通过所述聚类平均而获得的向量，计算针对表示在各测定时点的处理对象的光谱的各向量的内积。

6.根据权利要求3所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述滤波器制作部从在各测定时点求出的杂质提取用的滤波器即多个向量之中选择范数为最大的向量，所述含杂质信息获取部利用经选择的向量，计算针对表示在各测定时点的处理对象的光谱的各向量的内积。

7.根据权利要求2所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述滤波器制作部将如下向量确定为杂质提取用的滤波器，所述向量是通过在表示目标成分的光谱的向量上乘以规定的常数，并从表示处理对象的光谱的向量加以减去而求出。

8.根据权利要求7所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述含杂质信息获取部计算在所述滤波器制作部中作为杂质提取用的滤波器而求出的向量的二阶范数，将所述二阶范数替代所述内积来判断在所述处理对象的光谱中有无杂质。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

当判定为在所述含杂质信息获取部中存在杂质时，将利用在所述滤波器制作部中作为杂质提取用的滤波器而求出的向量表示的光谱作为残余光谱，将所述残余光谱作为处理对象的光谱，反复执行由所述滤波器制作部及所述含杂质信息获取部进行的处理。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述滤波器制作部是将基于如下数据的光谱当作目标成分的光谱，即在针对作为测定对象的试样而获得的三维色谱数据之中推测为存在所述目标成分而无杂质的期间所获得的数据，并将表示所述光谱的向量作为所述主向量。

11.根据权利要求1至8中任一项所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述滤波器制作部将如下向量作为所述主向量，所述向量是在基于针对作为测定对象的试样而获得的三维色谱数据的光谱之中，利用向量表达时的范数为最大的向量。

12.根据权利要求2所述的色谱数据处理装置，其特征在于：

所述滤波器制作部将基于如下数据的光谱当作目标成分的光谱，所述数据是在针对作为测定对象的试样而获得的三维色谱数据之中在特定期间获得，并将如下向量确定为杂质提取用的滤波器，所述向量是通过在表示所述目标成分的光谱的向量上乘以规定的常数，并从表示处理对象的光谱的向量加以减去而求出，所述含杂质信息获取部将利用如下向量表示的光谱作为残余光谱，所述向量是针对在包含所述特定期间在内的规定的时间范围内获得的处理对象的各光谱利用所述滤波器制作部作为杂质提取用的滤波器而求出，基于所述残余光谱判定在关于所述规定时间范围而制作的色谱上在所述特定期间的前后是否出现波峰，由此判定在所述特定期间是否存在杂质。