[发明专利]用于改进轮胎的均匀性的方法和系统

权利要求书

1.一种用于改进轮胎的均匀性的方法，其特征在于，其包括：

识别至少一个候选过程效应；

识别用于所述至少一个候选过程效应的过程谐波幅值图案，所述过程谐波幅值图案指定用于所述至少一个候选过程效应的一个或多个过程谐波中的每一个的候选幅值；

获得用于在一个或多个测试轮胎的集合中的每一轮胎的所测量均匀性参数的一个或多个谐波中的每一个的所观测幅值；

利用计算装置至少部分基于与所述过程谐波相关联的所述候选幅值和与在所述一个或多个测试轮胎的集合中的每一轮胎的所述所测量均匀性参数的相对应的谐波相关联的所述所观测幅值来确定用于所述一个或多个过程谐波中的每一个的所估计过程谐波幅值；以及

至少部分基于针对所述至少一个候选过程效应的所述一个或多个过程谐波中的每一个确定的所述所估计过程谐波幅值来修改轮胎制造，

其中所述所估计过程谐波幅值在没有用于所述所测量均匀性参数的所述一个或多个谐波的所观测相位角信息的情况下确定。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述一个或多个测试轮胎的集合以相同制造过程制造，使得所述至少一个候选过程效应将显现在所述一个或多个测试轮胎的集合中。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，识别至少一个候选过程效应包括识别与所述多个测试轮胎相关联的已知过程效应。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，识别至少一个候选过程效应包括识别在候选过程效应的范围上阶梯式递增的候选过程效应的集合。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获得用于每一轮胎的所测量均匀性参数的一个或多个谐波中的每一个的所观测幅值包括：

利用均匀性测量机器测量在所述一个或多个测试轮胎的集合中的每一轮胎的均匀性波形；

将每一轮胎的所述均匀性波形分解成用于所述一个或多个谐波中的每一个的正弦和余弦项；以及

从所述正弦和余弦项计算所述一个或多个谐波中的每一个的所述所观测幅值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获得用于在多个测试轮胎中的每一轮胎的所测量均匀性参数的一个或多个谐波中的每一个的所观测幅值包括存取存储在计算装置的存储器中的所述所观测幅值。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述计算装置确定用于所述一个或多个过程谐波中的每一个的所述所估计过程谐波幅值包括构造一个模型，所述模型使用于所述一个或多个过程谐波中的每一个的所述候选幅值与和所述所测量均匀性参数的所述相对应的谐波相关联的所述所观测幅值相关。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述模型如下构造：

w＝P·β+ε

其中w表示与一个或多个谐波相关联的所观测幅值，P表示与所述至少一个候选过程效应的一个或多个过程谐波相关联的候选幅值，β表示用于所述一个或多个过程谐波中的每一个的系数，且ε表示残差。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，与所述一个或多个过程谐波中的每一个相关联的所述系数β使用回归分析或编程分析来估计，且用于所述一个或多个过程谐波中的每一个的所述所估计过程谐波幅值基于与所述过程谐波相关联的所述系数来确定。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，修改轮胎制造包括：

将用于所述一个或多个过程谐波中的每一个的所述所估计过程谐波幅值与阈值比较；以及

当所述所估计过程谐波幅值超出所述阈值时，采取校正动作来处理所述所估计过程谐波。

11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，修改轮胎制造包括跨越多个不同时间区间比较用于所述一个或多个过程谐波中的每一个的所述所估计过程谐波幅值以检测任何过程变化。

12.一种用于改进轮胎的均匀性的系统，其特征在于，所述系统包括：

测量机器，其经配置以测量在多个测试轮胎中的每一轮胎的均匀性波形；以及

耦合到所述测量机器的计算装置，所述计算装置包括一个或多个处理器和至少一个非暂时性计算机可读存储器，所述存储器存储在被所述一个或多个处理器执行时使得所述一个或多个处理器执行操作的计算机可读指令，所述操作包括：

识别至少一个候选过程效应；

识别用于所述至少一个候选过程效应的过程谐波幅值图案，所述过程谐波幅值图案指定用于所述至少一个候选过程效应的一个或多个过程谐波中的每一个的候选幅值；

获得用于在一个或多个测试轮胎的集合中的每一轮胎的所测量均匀性参数的一个或多个谐波中的每一个的所观测幅值；以及

利用所述计算装置至少部分基于与所述过程谐波相关联的所述候选幅值和与在所述一个或多个测试轮胎的集合中的每一轮胎的所述所测量均匀性参数的相对应的谐波相关联的所述所观测幅值来确定用于所述一个或多个过程谐波中的每一个的所估计过程谐波幅值，

其中所述所估计过程谐波幅值在没有用于所述所测量均匀性参数的所述一个或多个谐波的所观测相位角信息的情况下确定。