[发明专利]用于测量混浊样本的设备和方法

权利要求书

1.一种用于测量混浊样本的设备，包括

照射设备，具有被配置成用具有多个波长的平面光来照射混浊样本的目标区域的多个光源，

投影系统，被配置成用具有多个波长的结构化光来照射所述混浊样本的所述目标区域，其中所述平面光的多个波长不同于所述结构化光的多个波长，其中所述照射设备和所述投影系统具有不同的光投射路径，

传感器，被配置成收集从所述混浊样本的所述目标区域汇入的多个波长的平面光和多个波长的结构化光，以及

处理器，被配置成分析由传感器收集的所述汇入的平面和结构化光的数据，以确定所述混浊样本的散射和吸收系数，其中汇入的平面光的多个波长不同于汇入的结构化光的多个波长，其中使用描述散射对波长的相关性的散射函数来组合所述数据，以在使用具有空间结构的光所获得的离散波长下对测量结果进行内插或外推，以便获得用于使用不具有空间结构的光所获得的波长下的散射的估计。

2.如权利要求1所述的设备，其中，被配置成用所述平面光来照射所述混浊样本的所述目标区域的多个光源被定位在围绕所述照射设备的底座周围。

3.如权利要求1所述的设备，其中，所述照射设备包括光环组件。

4.如权利要求3所述的设备，其中，所述光环组件包括环主体，所述环主体具有围绕所述环主体的周围形成的多个插口，其中，所述光源被可去除地安装在所述插口内。

5.如权利要求4所述的设备，其中，所述光源包括LED模块。

6.如权利要求1所述的设备，其中，所述传感器是照相机。

7.如权利要求1所述的设备，其中，所述传感器与所述照射设备和所述投影系统偏轴地定位。

8.如权利要求1所述的设备，其中，所述光源包括射束均化器。

9.如权利要求8所述的设备，其中，所述射束均化器是积分棒。

10.如权利要求1所述的设备，其中，所述投影系统包括许多可开关光源。

11.如权利要求10所述的设备，其中，所述可开关光源包括具有不同波长的LED。

12.如权利要求1-11中任一项所述的设备，其中，所述平面光的波长不同于所述结构化光的波长。

13.一种用于测量混浊样本的设备，包括

平面光源，其被配置成用具有多个波长的平面光来照射混浊样本的目标区域，

空间结构化光源，其被配置成用具有多个波长的结构化光来照射所述混浊样本的所述目标区域，其中所述平面光的多个波长不同于所述结构化光的多个波长，其中所述平面光源和所述空间结构化光源具有不同的光投射路径，

传感器，被配置成收集从被平面光源和空间结构化光源单独地照射的所述混浊样本的所述目标区域汇入的多个波长的平面光和多个波长的结构化光，以及

处理器，被配置成分析由所述传感器收集的所述汇入的平面和结构化光的数据，以确定所述混浊样本的散射和吸收系数，其中汇入的平面光的多个波长不同于汇入的结构化光的多个波长，其中使用描述散射对波长的相关性的散射函数来组合所述数据，以在使用具有空间结构的光所获得的离散波长 下对测量结果进行内插或外推，以便获得用于使用不具有空间结构的光所获得的波长下的散射的估计。

14.如权利要求13所述的设备，其中，所述平面光源包括光环组件。

15.如权利要求14所述的设备，其中，所述光环组件包括环主体，所述环主体具有围绕所述环主体的周围形成的多个插口、以及可去除地安装在所述插口内的多个平面光源，其中所述多个平面光源被配置为用平面光照射所述混浊样本的所述目标区域。