[发明专利]空隙配置构造体以及使用其的测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及被用于被测定物的测定的空隙配置构造体以及使用其的测定方法。

背景技术

以往，为了分析物质的特性，使用以下测定方法：将被测定物保持在空隙配置构造体，对保持有该被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，解析其透射光谱等来检测被测定物的特性。具体来讲，例如举例有：对附着在金属网眼上的蛋白质等被测定物照射太赫兹波，并解析透射光谱的手法。

作为这种使用了电磁波的透射光谱的解析手法的现有技术，例如，在专利文献1(特开2007-010366号公报)中，公开了一种向保持有被测定物的空隙配置构造体(例如，网限状的导体板)照射电磁波，对透过了空隙配置构造体的电磁波进行测定，基于测定值的频率特性根据被测定物的存在而变化，来检测被测定物的特性的方法。

另外，根据图18(b)等的记载，专利文献1中公开的空隙配置构造体假定空隙部的开口面积的表面与里面基本相同，形成空隙部的内壁面与空隙配置构造体的主面所成的角度为大致90度。

在这种情况下，若被测定物的量少，则频率特性的变化极小，检测变得困难。因此，依然希望提供用于实现测定灵敏度更优良的测定的测定设备。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2007-010366号公报

发明内容

本发明的目的在于，提供一种用于实现测定灵敏度比以往更加优良的测定的空隙配置构造体以及使用其的测定方法。

-解决课题的手段-

本发明如下。

(1)一种空隙配置构造体，其被用于以下方法，即通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，其特征在于，

所述空隙配置构造体具有：第1主面、与所述第1主面对置的第2主面、以及在与所述第1主面以及所述第2主面垂直的方向上贯通的多个空隙部，

所述第1主面上的所述空隙部的开孔面积比所述第2主面上的所述空隙部的开孔面积小。

(2)根据上述(1)的空隙配置构造体，所述空隙配置构造体的第1主面与所述空隙部的至少一个内壁所成的角度为锐角。

(3)根据上述(1)或者(2)的空隙配置构造体，所述第2主面上的所述空隙部的开孔面积相对于所述第1主面上的所述空隙部的开孔面积的比率为1.02～2.5。

(4)根据上述(1)～(3)的任意一个的空隙配置构造体，所述第1主面上的所述空隙部的开孔是所述被测定物不能通过的大小，所述第2主面上的所述空隙部的开孔是所述被测定物能够通过的大小。

(5)根据上述(1)～(4)的任意一个的空隙配置构造体，所述空隙部的内壁具有凹部。

(6)一种测定方法，通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，

该测定方法使用上述(1)的空隙配置构造体。

(7)一种测定方法，通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，

该测定方法使用上述(2)的空隙配置构造体，在该空隙配置构造体的所述第1主面的附近保持所述被测定物。

(8)一种测定方法，通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，

该测定方法使用上述(2)的空隙配置构造体，在该空隙配置构造体的所述第2主面的附近保持所述被测定物。

(9)一种测定方法，使用上述(4)的空隙配置构造体，通过使所述被测定物从所述空隙配置构造体的所述第2主面侧向所述第1主面的方向移动，从而将所述被测定物保持在所述空隙配置构造体的至少一部分的所述空隙部。

-发明效果-

本发明的空隙配置构造体具有空隙部，该空隙配置构造体的第1主面上的空隙部的开孔面积比第2主面上的相同空隙部的开孔面积小。因此，在空隙配置构造体的第1主面与空隙部的内壁相接的部分附近，电磁场集中。其结果，由于空隙配置构造体的第1主面与空隙部的内壁相接的部分附近的被测定物的有无所导致的检测电磁波的频率特性的变化变大，因此测定灵敏度提高。

附图说明

图1是用于对本发明的测定方法的概要进行说明的示意图。

图2是用于对本发明中使用的空隙配置构造体的结构进行说明的示意图。