[发明专利]空隙配置构造体以及使用其的测定方法

权利要求书

1.一种空隙配置构造体，其被用于以下方法，即：通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，所述空隙配置构造体的特征在于，

具有：第1主面、与所述第1主面对置的第2主面、以及在与所述第1主面以及所述第2主面垂直的方向上贯通的多个空隙部，

所述第1主面上的所述空隙部的开孔面积比所述第2主面上的所述空隙部的开孔面积小。

2.根据权利要求1所述的空隙配置构造体，其中，

所述空隙配置构造体的第1主面与所述空隙部的至少一个内壁所成的角度为锐角。

3.根据权利要求1或者2所述的空隙配置构造体，

所述第2主面上的所述空隙部的开孔面积相对于所述第1主面上的所述空隙部的开孔面积的比率为1.02～2.5。

4.根据权利要求1～3的任意一项所述的空隙配置构造体，

所述第1主面上的所述空隙部的开孔是所述被测定物不能通过的大小，所述第2主面上的所述空隙部的开孔是所述被测定物能够通过的大小。

5.根据权利要求1～4的任意一项所述的空隙配置构造体，

所述空隙部的内壁具有凹部。

6.一种测定方法，通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，其中

该测定方法使用权利要求1所述的空隙配置构造体。

7.一种测定方法，通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，其中，

该测定方法使用权利要求2所述的空隙配置构造体，在该空隙配置构造体的所述第1主面的附近保持所述被测定物。

8.一种测定方法，通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对在所述空隙配置构造体散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，其中，

该测定方法使用权利要求2所述的空隙配置构造体，在该空隙配置构造体的所述第2主面的附近保持所述被测定物。

9.一种测定方法，其中，

使用权利要求4所述的空隙配置构造体，通过使所述被测定物从所述空隙配置构造体的所述第2主面侧向所述第1主面的方向移动，从而将所述被测定物保持在所述空隙配置构造体的至少一部分的所述空隙部。