[发明专利]荧光体的表面处理方法、荧光体、发光装置以及照明装置有效
申请号: | 201380030222.1 | 申请日: | 2013-06-04 |
公开(公告)号: | CN104350127B | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 竹田豪;野野垣良三 | 申请(专利权)人: | 电化株式会社 |
主分类号: | C09K11/08 | 分类号: | C09K11/08;C09K11/64;H01L33/50 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 | 代理人: | 黄志华,石磊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 表面 处理 方法 发光 装置 以及 照明 | ||
技术领域
本发明涉及一种荧光体的表面处理方法、利用该方法处理的荧光体、使用该荧光体的发光装置以及照明装置。更详细地说,本发明涉及一种基质晶体具有与(Sr,Ca)AlSiN3晶体实质上相同的晶体结构的荧光体的表面处理技术。
背景技术
含有Sr的氮化物荧光体容易因氧、热以及水分等而发生劣化,尤其是存在耐湿可靠性的问题。关于含有Sr的氮化物荧光体的耐湿可靠性劣化的原因,人们认为例如因与大气中的水分反应、或与水接触的工序等,而在含有Sr的荧光体表面上容易形成含氢氧化锶的水解层。
作为使荧光体的耐湿性提高的方法有如下方法:利用金属烷氧化物或其衍生物来处理荧光体表面的方法(参照专利文献1);在荧光体表面形成含有氟的表面处理层的方法(参照专利文献2)。以往,以提高耐热性为目的,有如下方法:利用含磷的化合物,对由氮化物类荧光材料组成的荧光体进行处理(参照专利文献3)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2008-111080号公报
专利文献2:日本特开2012-31425号公报
专利文献3:日本特开2006-269938号公报
发明内容
发明所要解决的问题
然而,利用金属烷氧化物或其衍生物来处理荧光体的方法,存在导致荧光体彼此之间凝聚的问题。另外,在荧光体表面形成含有氟的表面处理层的方法存在如下问题:在安装LED(Light Emitting Diode:发光二极管)时进行组合使用的树脂或荧光体因氟而发生劣化的问题。并且,在专利文献3所记载的表面处理方法中,由于使用磷酸的金属盐而作为含磷的化合物,所以存在因它们所含的镧等而使光学特性下降的问题。
在此,本发明的主要目的是提供一种荧光体的表面处理方法、荧光体、发光装置以及照明装置,所述荧光体的表面处理方法在(Sr,Ca)AlSiN3氮化物荧光体中、能够使其耐湿可靠性提高而不会使光学特性下降。
用于解决问题的方法
本发明的荧光体的表面处理方法具有浸渍工序和热处理工序,所述浸渍工序是将基质晶体具有与(Sr,Ca)AlSiN3晶体实质上相同的晶体结构的荧光体、浸渍于含有磷酸铵的水溶液中;所述热处理工序是将所述浸渍工序后的荧光体在250~550℃的温度环境下保持2~24小时。
在本发明的荧光体的表面处理方法中,优选将所述磷酸铵中的磷含有率设为0.1~2.0质量%。
在本发明的荧光体的表面处理方法中,优选进行水洗工序,所述水洗工序是对所述热处理工序后的荧光体进行水洗。
本发明的荧光体是,其基质晶体具有与(Sr,Ca)AlSiN3晶体实质上相同的晶体结构,并且是实施了进行浸渍工序和热处理工序的表面处理而得到的,所述浸渍工序是将荧光体浸渍于含有磷酸铵的水溶液中;所述热处理工序是将所述浸渍工序后的荧光体在250~550℃的温度环境下保持2~24小时。
本发明的荧光体优选为,将用于所述表面处理的磷酸铵的磷含有率设为0.1~2.0质量%。
在所述表面处理中,优选进行水洗工序,所述水洗工序是对所述热处理工序后的荧光体进行水洗。
本发明的荧光体的磷含有率优选为0.003~1质量%。
本发明的发光装置具有所述荧光体。
本发明的照明装置具备所述发光装置。
发明效果
与以往的(Sr,Ca)AlSiN3氮化物荧光体相比,根据本发明,能够提高荧光体的耐湿可靠性而不会使光学特性下降。
附图说明
图1是本发明实施方式的荧光体的表面处理方法的流程图。
具体实施方式
以下,对用于实施本发明的方式进行详细说明。
图1是本发明实施方式的荧光体的表面处理方法的流程图。如图1所示,本实施方式的荧光体的表面处理方法可进行如下工序:浸渍工序,其是将基质晶体具有与(Sr,Ca)AlSiN3晶体实质上相同的晶体结构的荧光体、浸渍于含有磷酸铵的水溶液中(步骤1);和热处理工序,其是将浸渍工序后的荧光体在250~550℃的温度环境下保持2~24小时(步骤2)。根据需要,能够对热处理工序后的荧光体进行图1所示的水洗工序(步骤3)。
[浸渍工序:步骤1]
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